[发明专利]一种快速识别平面平整度的方法

权利要求书

1.一种快速识别平面平整度的方法，所述平面包括平整部位、凹陷部位、凸出部位，其特征在于，包括激光发生器，所述激光发生器发射的激光为激光平面，所述激光平面以与平面成一定角度照射在平面上，在所述平整部位、凹陷部位及凸出部位上形成识别线；

包括标定测试设备绘制标准曲线：

步骤(1)，设置激光平面以与测试位置的角度为α，激光平面投射在测试平面上，呈现识别线；

步骤(2)，设置所述识别线相对凹区缺陷位和凸区缺陷位的中心轴线，使用直尺测量凹区缺陷位或/和凸区缺陷位距离中心轴线的垂直距离为激光测量缺陷距离L；

步骤(3)，使用塞尺测量实际缺陷距离L’，重复步骤(2)和(3)；

步骤(4)，直尺读数L为横坐标，以塞尺读数L’为纵坐标，绘制标准曲线；

通过下式计算缺陷处的平整度x，平整度x＝k·L，其中k＝tgα＝L’/L；

步骤(2)设置所述识别线相对凹区缺陷位和凸区缺陷位的中心轴线，并使用靠尺对准识别线的中心轴线，进一步使用塞尺测量L’；

包括现场测试，步骤(A)，启动激光发生器，待待激光平面在平面上显示的识别线稳定；

步骤(B),开始测量，观察识别线形状；选取异常缺陷处测量相对缺陷距离L，并根据标准曲线换算L’，获得平整度x。

2.根据权利要求1所述一种快速识别平面平整度的方法，其特征在于，所述激光平面为水平方向或者竖直方向设置。

3.根据权利要求1所述一种快速识别平面平整度的方法，其特征在于，所述测量激光测量缺陷距离L的直尺，精确至0.5mm。

4.根据权利要求1所述一种快速识别平面平整度的方法，其特征在于，现场测试使用两台激光发生器对称布置，分别提供识别线，准确定位识别线的中心轴线。