[发明专利]一种乙烯基砜表面引发水相阴离子聚合方法有效

专利信息
申请号: 201910651868.0 申请日: 2019-07-18
公开(公告)号: CN110372836B 公开(公告)日: 2021-05-18
发明(设计)人: 程昉;刘冲;王汉奇;徐贺;何炜 申请(专利权)人: 大连理工大学
主分类号: C08F292/00 分类号: C08F292/00;C08F220/38;C08F220/54;C08F212/14
代理公司: 大连东方专利代理有限责任公司 21212 代理人: 房艳萍;李馨
地址: 116024 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 一种 乙烯基 表面 引发 阴离子 聚合 方法
【说明书】:

发明公开了一种乙烯基砜表面引发水相阴离子聚合的方法,所述的方法是在催化剂条件下将表面含有乙烯基砜基团的材料浸入聚合物单体水溶液中,25~100℃反应1‑72h即实现表面引发阴离子聚合,在材料表面共价键联聚合物。该方法底物适用范围广;反应条件温和,无需无水无氧操作,可控性强;是一种潜力巨大的表面引发阴离子聚合方法。

技术领域

本发明属于无机-有机复合物制备领域,具体涉及一种材料表面引发阴离子聚合方法,尤其涉及一种乙烯基砜表面引发水相阴离子聚合反应。

技术背景

用有机聚合物修饰材料表面是一种通用有效的表面改性方法。在材料表面枝接聚合物常用的有两种方法,一种是“枝接到”法,即通过特定官能团将聚合物链化学固定在材料表面;另一种是“表面枝接”法,即通过表面引发聚合反应。前者需要在材料和聚合物分子中引入特定反应活性的官能团,而且考虑到聚合物分子的空间位阻,一般枝接密度较低。后者由表面引发聚合反应,只有单体与生长链反应,没有明显空间位阻,因此聚合物链高度舒展,取向性好,枝接密度高,分布均匀,表面覆盖度高。

常见的表面引发聚合技术包括表面引发原子转移自由基聚合(ATRP),表面引发可逆加成-断裂链转移聚合(RAFT),表面引发光聚合(PGP),表面引发开环易位聚合(ROMP)。原子转移自由基聚合(ATRP)是最常用的聚合技术,可在水溶液中即可进行,具有一定的生物相容性。该方法仍具有一些明显的不足,首先,一价铜离子作为ATRP常用的催化剂,易被空气氧化而失效,因此反应必须在惰性气体保护下进行,而且残留铜离子具有一定的生物毒性;其次,聚合过程中需要高浓度单体溶液。表面引发可逆加成-断裂链转移聚合(RAFT)是另一种活性可控自由基聚合,通常加入双硫酯衍生物作为链转移试剂,聚合中它与增长链自由基形成休眠的中间体,限制了增长链自由基之间的不可逆双基终止副反应,使聚合反应得以有效控制。RAFT的最大优点是适用的单体范围广,不需要使用昂贵的试剂,也不会导致杂质或残存试剂,而且聚合温度也较低,一般在60—70℃下即可进行。然而,RAFT也有不少缺点:例如双硫酯衍生物可能会使聚合物的毒性增加,并且双硫酯的制备过程比较复杂,还有可能使聚合物带有一定的颜色和气味。它们的去除或转换也比较困难,引发的自由基容易引起链终止。表面引发光聚合(PGP)是一类光敏自由基聚合反应,光引发剂通过光化学形成自由基,引发聚合反应。PGP技术具有环境友好,效率高,适用性广的优点,但是光引发剂种类较少,而且由于引发剂活性较高,生成的自由基容易被氧气或水猝灭而终止反应,通常需要无水无氧操作。表面引发开环易位聚合(ROMP)是一类适用于杂环化合物的聚合反应,包括环醚,环内酯,环酰胺,环缩醛,环酸酐等。该类反应多为阴/阳离子聚合,反应可控性强且溶剂耐受性高,但是底物适用范围较为有限。而且,现有表面引发聚合反应大都存在溶液中的本底反应,造成单体损耗。

发明内容

本发明旨在提供一种乙烯基砜表面引发阴离子聚合新方法,所述方法包括如下步骤:将具有通式Ⅱ结构的表面含有乙烯基砜基团的衬底材料浸入具有通式I结构的聚合物单体水溶液中,在催化剂作用下25-100℃反应1-72h,即可实现表面引发阴离子聚合,制得聚合物材料,具有通式Ⅲ结构。

反应路线如下:

其中,X为吸电子基团或含有吸电子基团的芳香衍生物;Y选自氢原子,甲基,乙基;R为有机功能基团。

对于上文所述的技术方案中,优选的情况下,所述的表面含有乙烯基砜基团的衬底材料为衬底材料的表面含有乙烯基砜基团,或衬底材料的表面化学键联乙烯基砜基团。

对于上文所述的技术方案中,优选的情况下,所述的表面含有乙烯基砜基团的衬底材料选自金属、硅片、玻璃、硅纳米材料、纸、琼脂糖凝胶、高分子膜。

对于上文所述的技术方案中,优选的情况下,所述的聚合物单体具有通式I的结构,式中X为吸电子基团,选自砜基丙烯酸酯丙烯酰胺或含有吸电子基团的芳香衍生物,如Y选自氢原子H,甲基CH3,乙基

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