[发明专利]一种碳化硅包覆的空心硅材料、其制备方法以及使用该材料的电极和电化学装置有效
| 申请号: | 201910650487.0 | 申请日: | 2019-07-18 |
| 公开(公告)号: | CN112242504B | 公开(公告)日: | 2023-04-07 |
| 发明(设计)人: | 邱新平;张文广;徐涵颖;郑曦;李慧玉 | 申请(专利权)人: | 北京清创硅谷科技有限公司;清华大学 |
| 主分类号: | H01M4/36 | 分类号: | H01M4/36;H01M4/38;H01M4/62;H01M10/0525 |
| 代理公司: | 北京金信知识产权代理有限公司 11225 | 代理人: | 夏东栋;钱程 |
| 地址: | 100192 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 碳化硅 空心 材料 制备 方法 以及 使用 电极 电化学 装置 | ||
1.一种碳化硅包覆的空心硅材料,其特征在于,
该材料包括空心硅颗粒,以及包覆在空心硅颗粒上的碳化硅致密层,
所述空心硅的空腔的粒径在10-50nm之间,该空心硅的粒径在30-100nm之间,且空心硅上包覆的碳化硅致密层的厚度在2-5nm之间,以及
所述碳化硅致密层中还包括碳,以及,所述碳化硅致密层中的碳与碳化硅的重量比为13:87至33:67,其中
该材料的比表面积是15-20m2/g。
2.根据权利要求1所述的空心硅材料,其中
该碳化硅在通过单色镜利用的铜辐射测量的X射线粉末衍射图中,在35.5°±0.02°、60°±0.02°、72°±0.02°的衍射角2θ处有特征峰。
3.一种根据权利要求1所述的碳化硅包覆的空心硅材料的制备方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:
步骤1:将空心硅颗粒放入反应炉内;
步骤2:在惰性气体环境下,在1050-1150℃的条件下,基于空心硅的重量,通入5-10%重量的碳源气体;
其中,所述碳源气体为CO,以及
在步骤2中还同时通入体积相当于CO含量的25%的量的H2。
4.根据权利要求3所述的制备方法,其中
步骤2的持续时间是5-20min。
5.一种使用根据权利要求1-2中任一项所述碳化硅包覆的空心硅材料制备的负极。
6.一种使用根据权利要求1-2中任一项所述碳化硅包覆的空心硅材料制备的电化学装置。
7.根据权利要求6所述的电化学装置,其中
所述电化学装置是锂离子电池或者超级电容器。
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