[发明专利]一种红外发射率测量平台的辅助定位系统

说明书

本发明属于红外发射率测量技术领域，涉及一种红外发射率测量平台的辅助定位系统，包括标准黑体炉（1），样品加热炉（2），固定平板（3），平移台导轨（4），丝杆装置（5），滑块（6）；本发明通过将标准黑体炉（1），样品加热炉（2）装在辅助定位系统上，使样品加热炉（2），标准黑体炉（1）相对于辐射计位置可满足立体空间调整，样品加热炉（2）中心区域、标准黑体炉（1）中心区域分别与辐射计光轴重合，采用电机控制平移台和支撑平台移动，定位系统每次试验均采取相同的位置数据，可使系统内各设备相对位置固定，确保试验条件参数一致性。

技术领域

本发明属于红外发射率测量技术领域，涉及一种红外发射率测量平台的辅助定位系统。

背景技术

低红外发射率材料主要用于涂覆武器表面，以降低武器装备自身在运动或静止时的红外辐射信号。测量时，将材料涂覆在具有高传热性能的金属板上，金属板置于样品加热炉的加热室内。通过加热装置使样品表面和参比黑体均达到同一测量温度，通过辐射计采集两者的辐射信号之比即为材料发射率。

在实际情况中，1）由于加热时样品表面不是理想的均匀温度场，加热时辐射计需采集加热室中心区域的辐射信号；2）标准锥腔黑体和样品加热炉定期送检，系统内各设备的相对位置需重新定位；3）每次测量时辐射计采集样品的位置需相同，以保持实验条件的可重复性，若采用手动挪动辐射计方式使之视场分别对准样品和标准参比黑体，则会有位置发生偏差和辐射计望远系统需重新对焦的情况。将黑体炉和加热炉至于固定高度的物体上，重复试验或送检回试验室后重新放置，辐射计采集样品位置难以固定。

发明内容

本发明的目的：是为了提高平台测量精度和保证试验重复性。

本发明技术方案：一种红外发射率测量平台的辅助定位系统，其特征在于，包括标准黑体炉1，样品加热炉2，固定平板3，平移台导轨4，丝杆装置5，滑块6；标准黑体炉1和样品加热炉2固定在固定平板3上，固定平板3底部安装滑块6后放置在平移台导轨4上，滑块6装在平移台导轨4的导轨内，平移台导轨4装在支撑平台上。

所述样品加热炉2，标准黑体炉1相对于辐射计位置可满足立体空间调整。

所述样品加热炉2中心区域、1中心区域分别与辐射计光轴重合。

所述支撑平台中部为丝杆装置5。

所述滑块6通过步进电机驱动在平移台导轨4长度范围内可连续移动。

所述支撑平台采用升降电机控制丝杆装置5可连续升降。

所述定位系统每次试验均采取相同的位置数据。

所述平移台和支撑平台移动采用电机控制。

本发明的有益效果：本发明通过将标准黑体炉1，样品加热炉2装在辅助定位系统上，使样品加热炉2，标准黑体炉1相对于辐射计位置可满足立体空间调整，样品加热炉2中心区域、标准黑体炉1中心区域分别与辐射计光轴重合，采用电机控制平移台和支撑平台移动，定位系统每次试验均采取相同的位置数据，可使系统内各设备相对位置固定，确保试验条件参数一致性。

附图说明

图1为本发明结构示意图。

图中：1-标准黑体炉，2-样品加热炉，3-固定平板，4-平移台导轨，

5-升降丝杆，6-滑块。

具体实施方式

下面结合附图对本发明进一步说明：