[发明专利]一种嵌套式光模块低温测试装置及测试方法

说明书

本发明公开了一种嵌套式光模块低温测试装置及测试方法，属于光模块低温测试领域，该测试装置包括温箱体和铰接在所述温箱体上的箱门，所述温箱体的内部对应所述箱门的位置处固定安装有隔离保护区，所述箱门对应所述隔离保护区的位置处嵌装有可视窗，所述可视窗上开设有穿槽，所述温箱体的内部固定安装有导轨，所述导轨依次贯穿于所述隔离保护区和所述穿槽，所述导轨上安装有滑板，所述滑板与所述导轨滑动连接，所述导轨上对应所述隔离保护区的后方固定安装有测试板，所述滑板对应所述测试板的一端固定安装有光模块加热夹具；本发明结构简单，使用方便，无需反复升温、降温工作，提高了光模块低温检测的效率。

技术领域

本发明属于光模块低温测试技术领域，具体涉及一种嵌套式光模块低温测试装置及测试方法。

背景技术

在光模块研发、生产过程中，常常要对光模块进行低温测试(温度一般为-55度-0度)，多数情况下，会选择温箱进行测试。

现有的光模块低温测试箱做低温测试时需要将温箱温度调整到目标低温，测试完成后，需要将使光模块温度回升，以免将光模块从温箱取出时，光模块外表面或内部会凝水从而损坏光模块，测试下一个光模块时，又需要将温箱温度调整到目标低温，这样反复对温箱进行升降温操作会增加测试时间、降低温箱使用效率。

发明内容

本发明的目的在于提供一种嵌套式光模块低温测试装置及测试方法，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种嵌套式光模块低温测试装置，该测试装置包括温箱体和铰接在所述温箱体上的箱门，所述温箱体的内部对应所述箱门的位置处固定安装有隔离保护区，所述箱门对应所述隔离保护区的位置处嵌装有可视窗，所述可视窗上开设有穿槽，所述温箱体的内部固定安装有导轨，所述导轨依次贯穿于所述隔离保护区和所述穿槽，所述导轨上安装有滑板，所述滑板与所述导轨滑动连接，所述导轨上对应所述隔离保护区的后方固定安装有测试板，所述滑板对应所述测试板的一端固定安装有光模块加热夹具，所述光模块加热夹具为嵌套有TEC加热装置的固定夹具，所述温箱体的侧壁上开设有常温压缩空气进出口。

优选的，所述光模块加热夹具包括固定安装在所述滑板靠近所述测试板一端上表面的夹板，所述夹板上具有一个凹槽，所述凹槽内设置有凸板，所述凸板与所述夹板固定连接。

优选的，所述温箱体的底面四个拐角处均固定安装有支撑脚。

优选的，所述导轨共设置有两个，两个所述导轨关于所述滑板的中间位置处对称。

优选的，所述滑板的底面开设有与所述导轨相适配的滑槽。

本发明还提供一种嵌套式光模块低温测试装置的测试方法，该测试方法包括如下步骤：

S1、启动测试温箱，使温箱温度降到测试的目标温度，将滑板拉出，将光模块放置在光模块夹具的内侧，使光模块的后端与凸块相抵，并使光模块的拉环扣在凸块上将光模块安装好；

S2、推动滑板，将滑板沿导轨推入箱体内，使光模块的插口与测试板的插口连接，对光模块进行测试；

S3、拉动滑板，使光模块进入隔离保护区内，启动TEC加热装置，使光模块加热到适宜人手进行抓握、拔取等下料操作的温度；

S4、将升温后的光模块取下，换上需要测试的光模块；

S5、在不关闭测试温箱的情况下，重复S2-S4对待测光模块进行测试即可完成测试工作。

优选的，所述S1中温箱测试的目标温度为-55—0℃。

优选的，所述S3中适宜人手进行抓握、拔取等下料操作的温度为30-40℃。