[发明专利]一种穿刺式光模块高温测试装置及测试方法在审

专利信息
申请号: 201910646017.7 申请日: 2019-07-17
公开(公告)号: CN110296817A 公开(公告)日: 2019-10-01
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 武汉火石光电有限公司
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00
代理公司: 北京君泊知识产权代理有限公司 11496 代理人: 王程远
地址: 430000 湖北省武汉市东湖新技术*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 导轨 保护区 光模块 高温测试装置 高温测试 穿刺式 可视窗 位置处 滑板 测试 穿槽 箱门 测试装置 滑动连接 内部固定 不停机 测试板 使用率 铰接 温箱 贯穿
【说明书】:

发明公开了一种穿刺式光模块高温测试装置及测试方法,属于光模块高温测试领域,该测试装置包括温箱体和铰接在所述温箱体上的箱门,所述温箱体的内部对应所述箱门的位置处固定安装有降温保护区,所述箱门对应所述降温保护区的位置处嵌装有可视窗,所述可视窗上开设有穿槽,所述温箱体的内部固定安装有导轨,所述导轨依次贯穿于所述降温保护区和所述穿槽,所述导轨上安装有滑板,所述滑板与所述导轨滑动连接,所述导轨上对应所述降温保护区的后方固定安装有测试板;本发明结构简单,使用方便,步骤简单,可在不停机的情况下反复测试,减少了所需的时间,提高了光模块高温测试的效率及温箱的使用率。

技术领域

本发明属于光模块高温测试技术领域,具体涉及一种穿刺式光模块高温测试装置及测试方法。

背景技术

在光模块研发、生产过程中,常常要对光模块进行高温测试,多数情况下,会选择温箱进行测试。

现有的高温测试温箱在做高温测试时需要将温箱温度调整到目标高温,测试完成后,需要将温箱温度下降到人手可以进行抓握、拔取等下料操作的温度。测试下一个光模块时,又需要将温箱温度升回到目标高温,这样反复对温箱进行升降温操作会增加测试时间、降低温箱使用效率。

发明内容

本发明的目的在于提供一种穿刺式光模块高温测试装置及测试方法,以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种穿刺式光模块高温测试装置,该测试装置包括温箱体和铰接在所述温箱体上的箱门,所述温箱体的内部对应所述箱门的位置处固定安装有降温保护区,所述箱门对应所述降温保护区的位置处嵌装有可视窗,所述可视窗上开设有穿槽,所述温箱体的内部固定安装有导轨,所述导轨依次贯穿于所述降温保护区和所述穿槽,所述导轨上安装有滑板,所述滑板与所述导轨滑动连接,所述导轨上对应所述降温保护区的后方固定安装有测试板,所述滑板对应所述测试板的一端固定安装有光模块夹具,所述温箱体的侧壁上开设有常温压缩空气进出口。

优选的,所述光模块夹具包括固定安装在所述滑板靠近所述测试板一端上表面的夹板,所述夹板上具有一个凹槽,所述凹槽内设置有凸板,所述凸板与所述夹板固定连接。

优选的,所述温箱体的底面四个拐角处均固定安装有支撑脚。

优选的,所述导轨共设置有两个,两个所述导轨关于所述滑板的中间位置处对称。

优选的,所述滑板的底面开设有与所述导轨相适配的滑槽。

本发明还提供一种穿刺式光模块高温测试装置的测试方法,该测试方法包括如下步骤:

S1、启动测试温箱,使温箱升温,将滑板拉出,将光模块放置在光模块夹具的内侧,使光模块的后端与凸块相抵,并使光模块的拉环扣在凸块上将光模块安装好;

S2、推动滑板,将滑板沿导轨推入箱体内,使光模块的插口与测试板的插口连接,对光模块进行测试;

S3、拉动滑板,使光模块进入降温保护区内,利用常温压缩空气对着光模块吹送,对光模块强制降温;

S4、将降温后的光模块取下,换上需要测试的光模块;

S5、在不关闭测试温箱的情况下,重复S2-S4对待测光模块进行测试即可完成测试工作。

优选的,所述S1中温箱升温的温度为70-90℃。

优选的,所述S3中强制降温后的温度为25-40℃。

与现有技术相比,本发明的有益效果是:本发明提供的光模块高温测试装置及测试方法,通过在测试温箱内设置导轨、滑板、光模块夹具以及降温保护区,测试后通过降温保护区对光模块进行强制降温,无需降低测试温箱的温度,减少温箱反复升温、降温所需的时间,提高了光模块的测试效率及温箱的使用率。

附图说明

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