[发明专利]图像检测方法和设备、处理器芯片电路以及存储介质

说明书

本申请公开一种图像检测方法和设备、电路及介质。图像检测方法包括：从具有第一分辨率的第一图像得到具有低于第一分辨率的第二分辨率的第二图像；对第二图像进行检测，以获得一个或多个第一目标；对第一图像中包含一个或多个第一目标中的至少一个第一目标的区域进行检测，以获得至少一个第二目标。

技术领域

本公开涉及图像检测领域，特别涉及一种图像检测方法以及图像检测设备。

背景技术

图像检测技术在很多领域具有广泛的应用。通过进行图像检测，可以从图像中找到感兴趣的目标。然而，由于视角、遮挡、姿态等因素，可能会引起目标发生形变。这给图像检测带来了一定的挑战性。

在此部分中描述的方法不一定是之前已经设想到或采用的方法。除非另有指明，否则不应假定此部分中描述的任何方法仅因其包括在此部分中就被认为是现有技术。类似地，除非另有指明，否则此部分中提及的问题不应认为在任何现有技术中已被公认。

发明内容

所期望的是提供一种图像检测方法以及图像检测设备。

根据本公开的一个方面，提供了一种图像检测方法，包括：从具有第一分辨率的第一图像得到具有低于第一分辨率的第二分辨率的第二图像；对第二图像进行检测，以获得一个或多个第一目标；对第一图像中包含所述一个或多个第一目标中的至少一个第一目标的区域进行检测，以获得至少一个第二目标。

根据本公开的另一个方面，提供了一种处理器芯片电路，包括：被配置为执行根据本公开中所述的方法的步骤的电路单元。

根据本公开的另一个方面，提供了一种图像检测设备，包括：传感器，被配置为获取图像；以及前述的处理器芯片电路。

根据本公开的另一个方面，提供了一种图像检测设备，包括：处理器；以及存储程序的存储器，所述程序包括指令，所述指令在由所述处理器执行时使所述处理器执行本公开中所述的方法。

根据本公开的另一个方面，提供了一种存储程序的计算机可读存储介质，所述程序包括指令，所述指令在由电子设备的处理器执行时，致使所述电子设备执行本公开中所述的方法。

附图说明

附图示例性地示出了实施例并且构成说明书的一部分，并且与说明书的文字描述一起用于讲解实施例的示例性实施方式。所示出的实施例仅出于例示的目的，并不限制权利要求的范围。在所有附图中，相同的附图标记指代类似但不一定相同的要素。

图1是示出根据本公开示例性实施例的图像检测方法的流程图；

图2是示出根据本公开另一示例性实施例的图像检测方法的流程图。

图3是示出根据本公开示例性实施例的对第二图像进行检测、以获得一个或多个第一目标的示意图；

图4是示出根据本公开示例性实施例的对第一图像中包含一个或多个第一目标中的至少一个第一目标的区域进行检测、以获得至少一个第二目标的示意图；

图5是示出根据本公开另一示例性实施例的对第二图像进行检测、以获得一个或多个第一目标的示意图；

图6是示出根据本公开另一示例性实施例的对第一图像中包含一个或多个第一目标中的至少一个第一目标的区域进行检测、以获得至少一个第二目标的示意图；

图7是示出根据本公开示例性实施例的将至少一个第一目标合并到包括所述至少一个第二目标的第一图像中、并删除重复检测的目标的示意图；

图8是示出能够应用于示例性实施例的示例性计算设备的结构框图。

具体实施方式