[发明专利]一种光纤长度计算方法、装置、设备和计算机存储介质

说明书

本申请实施例涉及光通信技术领域，公开了一种光纤长度的计算方法、装置、设备和计算机存储介质，该方法包括：确定噪声区域的起始零点位置X_zs；确定脉冲集合M；从所述脉冲集合M中找出距离所述起始零点位置X_zs最近的数据点位置X_f；当|X_zs‑X_f|th_f时，确定菲涅尔反射的位置，根据所述菲涅尔反射的位置确定光纤长度，其中，所述th_f为第一预设距离阈值；或者，当|X_zs‑X_f|≥th_f时，确定所述光纤中距离所述起始零点位置X_zs最近的脉冲下降沿数据点位置X_d；根据所述脉冲下降沿数据点位置X_d计算光纤长度。通过上述方式，本申请实施例实现了光纤长度测量简单，不受其他任何影响，测量准确率高。

技术领域

本申请实施例涉及光通信技术领域，具体涉及一种光纤长度计算方法、装置、设备和计算机存储介质。

背景技术

光时域反射仪(Optical Time Domain Reflectometer，OTDR)被用于测试光纤电缆，OTDR典型地包括激光二极管和光电二极管，激光二极管在受测光纤的近端将光能脉冲引入光纤，光电二极管产生电流信号，该电流信号取决于响应于该输入脉冲从光纤的近端处发射的光能的功率。

由于菲涅尔反射(Fresnel reflections)和反向散射(backscattering)，从光纤的近端处发射光能。菲涅尔反射是由于光脉冲传播介质的折射率突变引起的，通常，这种变化发生在光纤的长度之间的连接处和光纤中的断裂处。反向散射是沿着相对于引入脉冲的方向的反方向返回的瑞利散射(Rayleigh scattering)。瑞利散射是由于光纤中引入的光脉冲的光子与光纤的分子之间的相互作用而产生的。随着光脉冲沿着光纤传播，瑞利散射导致了不可避免的功率损耗，因此反向散射光的功率水平确立了脉冲能够沿着光纤传播而不会承受不可接受的功率损耗的最大距离。反向散射光的功率水平也提供了诊断信息，在光纤处于应力作用下并且可能因此容易受到损坏的位置，应力导致额外的光衰减，从而产生反向散射信号下降率的可检测变化。

在实现本申请实施例的过程中，发明人发现：目前业内基本对于光纤长度测量包括简单测量菲涅尔反射的传播时间，由此计算菲涅尔反射距离，得到光纤长度，以及通过硬件改造，实现光纤长度测量，这种方案往往需要额外硬件或者改造OTDR设备，存在硬件成本高昂或者测量准确率低的问题。

发明内容

鉴于上述问题，本申请实施例提供了一种光纤长度的计算方法、装置、设备和计算机存储介质，克服了上述问题或者至少部分地解决了上述问题。

根据本申请实施例的一个方面，提供了一种计算光纤长度的方法，所述方法包括：

确定噪声区域的起始零点位置X_zs；

确定脉冲集合M；

从所述脉冲集合M中找出距离所述起始零点位置X_zs最近的数据点位置X_f；

当|X_zs-X_f|th_f时，确定菲涅尔反射的位置，根据所述菲涅尔反射的位置确定光纤长度，其中，所述th_f为第一预设距离阈值；或者，

当|X_zs-X_f|≥th_f时，确定所述光纤中距离所述起始零点位置X_zs最近的脉冲下降沿数据点位置X_d，根据所述脉冲下降沿数据点位置X_d计算光纤长度。

进一步的，所述确定噪声区域的起始零点位置X_zs，包括：