[发明专利]一种电控锁故障检测系统及检测方法

权利要求书

1.一种电控锁故障检测系统，包括控制器、电源和NMOS管，所述NMOS管的栅极与所述控制器的第一控制输出端相连，漏极与所述电控锁的内部线圈的电源负极相连，所述控制器在采集端采集所述电控锁的开关状态；其特征在于，所述电控锁故障检测系统还包括：

开关电路，其连接在所述电源和所述内部线圈的电源正极之间，且所述开关电路的控制端与所述控制器的第二控制输出端相连；

所述控制器的第一检测端连接在所述开关电路的输出端与所述电源正极之间，第二检测端连接在所述电源负极和所述NMOS管的漏极之间；

所述控制器接收开锁指令，并控制所述开关电路导通，并根据所述采集端、第一检测端和第二检测端处的信号输出所述电控锁是否故障的信号，具体为：

采集所述第一检测端处的第一电平，在所述第一电平为0V时，输出所述内部线圈的电源正极对地短路的故障信号，而在所述第一电平为第一高电平时，采集所述第二检测端处的第二电平，在所述第二电平为0V时，输出所述内部线圈的电源负极对地短路的信号，而在所述第二电平为第二高电平时，控制所述NMOS管导通；

再次采集所述第二检测端处的第二电平，在所述第二电平由所述第二高电平降至0V时，输出所述电控锁有断线故障的信号；

在所述第二电平由所述第二高电平降至低电平时，获取所述采集端的开关状态，在所述开关状态为关闭时，输出所述电控锁开关状态检测故障或结构故障的信号。

2.根据权利要求1所述的电控锁故障检测系统，其特征在于，所述电控锁故障检测系统还包括自恢复保险丝，其连接在所述电源和所述开关电路之间。

3.根据权利要求2所述的电控锁故障检测系统，其特征在于，所述开关电路为低电平导通的开关电路，其输入端通过所述自恢复保险丝与所述电源相连，输出端连接在所述第一检测端和所述电源正极之间。

4.根据权利要求3所述的电控锁故障检测系统，其特征在于，所述开关电路为PMOS管，其栅极与所述控制器的第二控制输出端相连，源极通过所述自恢复保险丝与所述电源相连，漏极连接在所述第一检测端和所述内部线圈的电源正极之间。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的电控锁故障检测系统，其特征在于，所述控制器还包括二极管，其正极连接的所述NMOS管的漏极和所述内部线圈的电源负极之间，负极连接在所述开关电路的输出端与所述内部线圈的电源正极之间。

6.根据权利要求1至4中任一项所述的电控锁故障检测系统，其特征在于，所述电控锁故障检测系统还包括锁控板，所述控制器、开关电路和所述NMOS管分别设置在所述锁控板上。

7.根据权利要求1至4中任一项所述的电控锁故障检测系统，其特征在于，所述电控锁故障检测系统还包括与所述控制器相连的显示模块和与所述显示模块相连的显示屏，用于显示电控锁故障信息。

8.根据权利要求1至4中任一项所述的电控锁故障检测系统，其特征在于，所述电控锁的锁壳体接地。

9.一种用于如权利要求1至8中任一项所述的电控锁故障检测系统的检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

接收开锁指令；

控制开关电路导通；

采集第一检测端处的第一电平，在所述第一电平为0V时，输出内部线圈的电源正极对地短路的故障信号，而在所述第一电平为第一高电平时，采集第二检测端处的第二电平，在所述第二电平为0V时，输出内部线圈的电源负极对地短路的信号，而在所述第二电平为第二高电平时，控制NMOS管导通；

再次采集第二检测端处的第二电平，在所述第二电平由所述第二高电平降至0V时，输出电控锁有断线故障的信号；

在所述第二电平由所述第二高电平降至低电平时，获取采集端的开关状态，在所述开关状态为关闭时，输出电控锁开关状态检测故障或结构故障的信号。

10.根据权利要求9所述的检测方法，其特征在于，还包括如下步骤：

显示电控锁的故障信息。