[发明专利]定量LIBS激光系统及定量方法在审
申请号: | 201910639175.X | 申请日: | 2019-07-16 |
公开(公告)号: | CN110296974A | 公开(公告)日: | 2019-10-01 |
发明(设计)人: | 薛岩 | 申请(专利权)人: | 钇斯特激光科技(天津)有限责任公司 |
主分类号: | G01N21/71 | 分类号: | G01N21/71;G01N21/01 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 300367 天津市滨*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光谱分析系统 激光聚焦镜 半透半返镜 待测样品 合光镜片 光谱信息 激光系统 激光器 采样镜 输出光 激光诱导击穿光谱 调整模块 反射光 扩束镜 透射光 光速 显微镜 激光 采集 | ||
1.一种定量LIBS激光系统,包括激光器(1)和光谱分析系统;其特征在于:
上述激光器(1)产生的激光依次通过扩束镜(4)、光速调整模块(5)后进入半透半返镜(3);在上述半透半返镜(3)的反射光路上设置有激光聚焦镜A(6-1),在上述半透半返镜(3)的透射光路上设置有激光聚焦镜B(6-2),所述激光聚焦镜A(6-1)的输出光路上设置有CCD合光镜片A(7-1),上述激光聚焦镜B(6-2)的输出光路上设置有CCD合光镜片B(7-2);还包括:
用于检测CCD合光镜片A(7-1)上激光能量的能量探测光电二极管A(8-1);
用于检测CCD合光镜片B(7-2)上激光能量的能量探测光电二极管B(8-2);
用于承载未知待测样品(11)的XYZ三维平移台A(12-1);
用于承载已知待测样品(15)的XYZ三维平移台B(12-2);
所述光谱分析系统包括光谱分析系统A(14-1)和光谱分析系统B(14-2);
所述光谱分析系统A(14-1)通过采样镜A(13-1)获取未知待测样品(11)的光谱信息;所述光谱分析系统B(14-2)通过采样镜B(13-2)获取已知待测样品(15)的光谱信息;CCD摄像机(10)依次通过显微镜(9)、CCD合光镜片A(7-1)采集未知待测样品(11)的信息。
2.根据权利要求1所述的定量LIBS激光系统,其特征在于:所述激光器(1)和扩束镜(4)之间设置有调整光路用的全反射镜A(2-1)和全反射镜B(2-2)。
3.根据权利要求1所述的定量LIBS激光系统,其特征在于:所述半透半返镜(3)和激光聚焦镜A(6-1)之间设置有调整光路用的全反射镜C(2-3)。
4.根据权利要求1所述的定量LIBS激光系统,其特征在于:所述显微镜(9)和CCD合光镜片A(7-1)之间设置有调整光路用的全反射镜D(2-4)。
5.根据权利要求1-4任一项所述的定量LIBS激光系统,其特征在于:所述激光器(1)的参数为:波长是1064nm,重频是1Hz,能量大于200mj,脉宽小于10ns,调Q方式为主动调Q,光斑聚焦直径小于0.1;冷却方式为风冷,数据测试RSD小于10%。
6.一种基于权利要求5所述定量LIBS激光系统的定量方法,其特征在于:包括如下步骤:
S1、激光器产生的激光半透半返镜后分为第一路激光和第二路激光;
S2、第一路激光反射进入聚焦镜B,再经过CCD合光镜片B,聚焦到已知标准样品表面,产生的激光等离子体发射光谱信号,由采样镜B耦合至光纤内,传输至光谱分析系统B,完成光谱的分光与探测,得到已知标准样品谱线;
第二路激光透射进入全反射镜C,全反激光进入聚焦镜A,再经过CCD合光镜片A聚焦到未知待测样品表面,产生的激光等离子体发射光谱信号,由采样镜A耦合至光纤内,传输至光谱分析系统A,完成光谱的分光与探测,得到未知待测样品谱线;将未知待测样品谱线与软件标准库对比,获得元素类别;
S3、将上述已知标准样品谱线与未知待测样品谱线进行对比,为数据定标具体为:
若已知标准样品和未知待测样品是谱线峰值谱线波长一致,则为同一种物质,根据含量公式:z=(a/b)c,其中:z为未知样品所求元素含量,a为未知样品该元素谱线强度,b为已知标准样品该元素谱线强度,c为已知标准样品该元素含量,求出未知样品各元素的含量;
若已知标准样品和未知待样品是谱线峰值不一致,则为不同物质;通过与标准库对比,获得元素类别,在同一波段内,根据y=(m/n)x+d;其中:y为未知样品所求元素含量,m为未知样品该元素谱线强度,n为已知标准样品参考元素谱线强度,x为已知标准样品该元素含量,d为常量。
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