[发明专利]侦测装置及侦测方法在审

专利信息
申请号: 201910631190.X 申请日: 2019-07-12
公开(公告)号: CN112213204A 公开(公告)日: 2021-01-12
发明(设计)人: 施文杰 申请(专利权)人: 陕西坤同半导体科技有限公司
主分类号: G01N3/20 分类号: G01N3/20;G01N3/06;G01L1/20
代理公司: 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 代理人: 郑裕涵
地址: 712046 陕西省咸阳市秦*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 侦测 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种侦测装置,用于侦测柔性面板上的折弯区的折弯应力,其特征在于,所述侦测装置包括:

侦测元件,设置于所述折弯区并与所述柔性面板连接,所述侦测元件随着所述柔性面板折弯而折弯;

控制装置,与所述侦测元件连接,所述控制装置包括与所述侦测元件对应的阻值及应力曲线单元、阻值计算单元和电流输送单元,所述电流输送单元用于向所述侦测元件输送电流,所述阻值计算单元用于计算所述侦测元件的阻值,所述阻值及应力曲线单元用于根据所述阻值计算单元计算的所述阻值显示所述侦测元件的折弯应力;以及

电压测量器,与所述侦测元件连接,所述电压测量器用于测量所述侦测元件的电压值;

其中,所述阻值计算单元通过所述电流输送单元输送的电流值及所述电压测量器测量的所述电压值计算所述侦测元件的所述阻值,所述阻值及应力曲线单元根据所述阻值计算单元计算的所述侦测元件的所述阻值显示所述侦测元件的折弯应力。

2.根据权利要求1所述的侦测装置,其特征在于,所述侦测元件为金属层,所述金属层的两端分别与所述柔性面板连接。

3.根据权利要求2所述的侦测装置,其特征在于,所述金属层的长度与所述折弯区的长度相对应,并且所述金属层的两端分别位于所述折弯区的两端。

4.根据权利要求2所述的侦测装置,其特征在于,还包括氧化物层,设置于所述金属层与所述柔性面板之间。

5.根据权利要求1所述的侦测装置,其特征在于,还包括二根第一金属引线,一端与所述柔性面板连接,并且所述二根第一金属引线与所述柔性面板的连接处位于所述侦测元件两侧,所述二根第一金属引线的另一端与所述控制装置连接,所述控制装置通过所述二根第一金属引线及所述柔性面板与所述侦测元件连接。

6.根据权利要求5所述的侦测装置,其特征在于,还包括二根第二金属引线,一端与所述侦测元件连接,并且所述二根第二金属引线与所述侦测元件的连接处位于所述侦测元件两端,所述二根第二金属引线的另一端与所述电压测量器连接。

7.根据权利要求6所述的侦测装置,其特征在于,所述二根第一金属引线与其相邻的所述二根第二金属引线的距离与所述二根第二金属引线之间的距离相等。

8.根据权利要求1所述的侦测装置,其特征在于,所述电流输送单元是间隔一段时间或是在所述柔性面板折弯时向所述侦测元件输送电流。

9.根据权利要求1所述的侦测装置,其特征在于,所述电流输送单元为驱动IC,所述电压测量器为电压表。

10.一种侦测方法,用于侦测柔性面板上的折弯区的折弯应力,其特征在于,所述侦测方法包括以下步骤:

(a)将侦测元件设置于所述折弯区并与所述柔性面板连接,以使所述侦测元件随着所述柔性面板折弯而折弯;

(b)将控制装置与所述侦测元件连接;

(c)将电压测量器与所述侦测元件连接;

(d)控制装置内的电流输送单元向所述侦测元件输送电流,电压测量器测量所述侦测元件的电压;

(e)控制装置内的阻值计算单元根据所述电流输送单元输送的电流值及所述电压测量器测量的所述电压值计算所述侦测元件的阻值;以及

(f)控制装置内的阻值及应力曲线单元根据所述阻值计算单元计算的所述侦测元件的所述阻值显示所述侦测元件的折弯应力。

11.根据权利要求10所述的侦测方法,其特征在于,所述步骤(a)中,将所述侦测元件的两端分别与所述折弯区的两端连接,以使所述折弯区在折弯时可以带动所述侦测元件折弯。

12.根据权利要求10所述的侦测方法,其特征在于,所述步骤(b)中,所述控制装置通过二根第一金属引线与柔性面板连接,并且所述二根第一金属引线与所述柔性面板的连接处位于所述折弯区的两侧,所述控制装置通过所述二根第一金属引线及所述柔性面板与所述侦测元件连接。

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