[发明专利]一种测试用例的生成方法、装置、设备及存储介质

说明书

本发明公开了一种测试用例的生成方法、装置、设备及存储介质。其中，方法包括：获取需要配置测试用例的电路模块，以及与电路模块匹配的寄存器文件；在测试用例的配置界面中显示用于配置寄存器，和/或寄存器中的域的配置输入框，以及与选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框；响应于对配置输入框的操作，将寄存器文件中与当前操作的配置输入框匹配的可配置寄存器，和/或寄存器中的域作为输入备选在配置界面中进行提示；根据对匹配的测试值输入框所输入的测试值，生成与电路模块匹配的测试用例。本发明实施例可以防止笔误操作，提高测试用例的生成效率，可以在测试用例的配置界面中展示配置内容，增强可读性。

技术领域

本发明实施例涉及数字集成电路验证领域，尤其涉及一种测试用例的生成方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

在数字集成电路开发过程中，经常需要利用测试平台进行验证。按照事先配置好的测试用例规定的业务，在测试平台上进行测试，获得精确的测试数据，然后对测试数据进行分析，得到数字集成电路的验证结果。

现有技术一般是采用文本编写的方式配置测试用例。配置一条测试用例需要手动编写文本文件。如图1a所示，在文本文件中，写入测试环境中需要配置的3个寄存器的名字：“buf_cfg_cfg”、“rate_ctrl_cfg”以及“rate_ctrl_wm_dev2g5_cfg”；写入需要配置的寄存器“buf_cfg_cfg”的域的名字“aging_ena”，以及与域“aging_ena”匹配的测试值“1”；写入需要配置的寄存器“rate_ctrl_cfg”的域的名字“frm_gap_comp”，以及与域“frm_gap_comp”匹配的测试值“2”；写入需要配置的寄存器“rate_ctrl_wm_dev2g5_cfg”的域的名字“taxi_128_rate_ctrl_wm_dev2g5”，以及与域“taxi_128_rate_ctrl_wm_dev2g5”匹配的测试值“3”。

现有技术的缺陷有如下几点：由于手动编写文本文件，容易发生笔误导致测试用例配置错误，测试用例的生成效率低。例如，发生笔误导致配置的寄存器的名字与测试环境中需要配置的寄存器的名字不完全匹配。同时，手动编写的测试用例的可读性不强。

发明内容

本发明提供一种测试用例的生成方法、装置、设备及存储介质，以实现提高测试用例的生成效率，增强测试用例的可读性和可移植性。

第一方面，本发明实施例提供了一种测试用例的生成方法，包括：

获取需要配置测试用例的电路模块，以及与电路模块匹配的寄存器文件，寄存器文件包括：至少一个可配置的寄存器，和/或寄存器中的域；

在测试用例的配置界面中显示用于配置寄存器，和/或寄存器中的域的配置输入框，以及与选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框；

响应于对配置输入框的操作，将寄存器文件中与当前操作的配置输入框匹配的可配置寄存器，和/或寄存器中的域作为输入备选在配置界面中进行提示；

根据对选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框所输入的测试值，生成与电路模块匹配的测试用例。

第二方面，本发明实施例还提供了一种测试用例的生成装置，包括：

文件获取模块，用于获取需要配置测试用例的电路模块，以及与电路模块匹配的寄存器文件，寄存器文件包括：至少一个可配置的寄存器，和/或寄存器中的域；

输入框显示模块，用于在测试用例的配置界面中显示用于配置寄存器，和/或寄存器中的域的配置输入框，以及与选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框；

备选提示模块，用于响应于对配置输入框的操作，将寄存器文件中与当前操作的配置输入框匹配的可配置寄存器，和/或寄存器中的域作为输入备选在配置界面中进行提示；