[发明专利]一种密封风的光学探头防污方法及装置在审

专利信息
申请号: 201910626227.X 申请日: 2019-07-11
公开(公告)号: CN112209110A 公开(公告)日: 2021-01-12
发明(设计)人: 黄孝彬;吴国勋 申请(专利权)人: 华北电力大学
主分类号: B65G53/66 分类号: B65G53/66;B65G53/34;B65G53/40;G01N15/00
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摘要:
搜索关键词: 一种 密封 光学 探头 防污 方法 装置
【说明书】:

发明公开了一种密封风的光学探头防污方法及装置:通过控制单元控制给料机构形成气固两相流由管道输送到拍照喷头,通过拍照喷头将气固两相流形成薄面流体状态从上往下经过测量区域;在测量区域下方布置回吸器,将拍照完的固体颗粒回收,防止气固两相流中的固体颗粒污染测量区域的背光源和光学镜头;本发明可长时间的保护光学元件不受粉尘的污染,减少维护量,提高系统运行的可靠性。

技术领域

本发明涉及一种密封风的光学探头防污方法及装置。

背景技术

气力输送是一种利用气流在管道中输送颗粒状固体的有效方法,广泛应用于各种工业部门的粉体输送,例如火力发电厂中固体燃料如煤粉等的管道输送。气力输送粉体参数如粒度、速度等的准确在线测量对保证生产安全和提高生产效率具有重要的意义。在气力输送粉体参数测量中,现有的测量方法包括筛分法、声学法、静电法和光学法等。相较于其他测量方法,光学法具有测量结果直观、后续处理简单、测量精度高的优点。然而,也存在一个显著的问题——在带粉运行的情况下,微细粉体颗粒容易污染光学探头,从而使得光学探头难以获得有效的测量信号,这成为限制气力输送粉体参数光学测量方法的工业应用的一个瓶颈问题。目前,一般在微细粉体颗粒污染光学探头后直接更换光学探头或拆卸光学探头进行手工清理。这种方案成本较高,且不利于实现粉体参数的连续在线测量。

为解决气力输送粉体参数光学测量过程中普遍存在的管道内微细颗粒污染光学探头的问题,本发明提出一种密封风的光学探头防污装置,在带粉运行的情况下,仍可以灵活有效地对光学探头进行防污,从而能够使各光学探头在带粉运行的情况下保持清洁,从而使气力输送粉体参数光学测量方法的工业应用成为可能。

发明内容

本发明的目的在于提供一种密封风的光学探头防污方法及装置,可长时间的保护光学元件不受粉尘的污染,减少维护量,提高系统运行的可靠性。

为了实现上述目的,本发明提供一种密封风的光学探头防污方法,其包括如下步骤:

(1)通过控制单元控制给料机构形成气固两相流由管道输送到拍照喷头;

(2)通过拍照喷头将步骤(1)气固两相流形成薄面流体状态从上往下经过测量区域;

(3)在测量区域下方布置回吸器,将拍照完的固体颗粒回收,防止气固两相流中的固体颗粒污染测量区域的光学镜头。

一种密封风的光学探头防污装装置,其中包括:

给料机构:用于气固两相流的发生,将气固两相流输送到拍照喷头;

拍照喷头:用于对气固两相流进行流体控制,气固两相流经过后形成薄面流体状态;

回吸器:用于将拍照完的固体颗粒回收,安装于拍照喷头下方;

抽气器:用于产生回吸器的回收吸力,通过密封管道与回吸器对接;

优选地,所述防污装置还包括测量区域;所述测量区域两侧水平布置背光源、光学镜头、相机;

优选地,所述背光源、相机与控制单元电控连接;所述相机用于抓拍气固两相流的颗粒图片,图片用于分析计算颗粒信息;

优选地,所述抽气器与控制单元电控连接,抽气器产生的吸力大小可由控制单元调节;

优选地,所述回吸器上方与拍照喷头底部距离在10mm内;

优选地,所述回收器截面为Y型、矩形、梯形;

采用上述方案后,本发明一种密封风的光学探头防污方法及装置具有以下优益效果:

1、可长时间的保护光学元件不受粉尘的污染;

2、减少维护量,提高系统运行的可靠性。

附图说明

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