[发明专利]光学组件在审

专利信息
申请号: 201910624437.5 申请日: 2019-07-11
公开(公告)号: CN110718851A 公开(公告)日: 2020-01-21
发明(设计)人: 佐伯智哉;藤村康 申请(专利权)人: 住友电气工业株式会社
主分类号: H01S5/06 分类号: H01S5/06;H01S5/0683;H01S5/00
代理公司: 11112 北京天昊联合知识产权代理有限公司 代理人: 顾红霞;龙涛峰
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 光检测器 光学组件 热敏电阻 激光束 壁部 盒状 温度调节元件 激光二极管 形状形成 界定 输出 发射 检测
【说明书】:

本发明涉及一种光学组件,该光学组件包括:LD(激光二极管),其发射激光束;载体,其上安装有LD和热敏电阻;光检测器,其检测从LD输出的激光束;TEC(温度调节元件),其上安装有该载体和该光检测器;机壳,其具有由壁部界定的盒状形状,盒状形状形成其中封装有LD、TEC和光检测器的空间,其中,至少壁部具有窗口,并且热敏电阻布置在LD与光检测器之间。

技术领域

本发明涉及一种光学组件。

背景技术

日本未经审查的专利公开No.2015-68854描述了光学元件和光学监测器。光学元件包括分光器、具有彼此不同的光路长度的两个波导、将经过两个波导的光束组合的光组合单元。分光器将进入光学元件的光束分开,并且使两个分开的光束进入两个波导。光组合单元将两个光束组合,并且输出两个光信号,这两个光信号均具有与进入光学元件的输入光束的光强度不同的光强度,并且这两个光信号之间具有相位差。

日本未审查专利公开No.2017-135252描述了包括波长可调谐激光二极管(LD)的光发射组件。波长可调谐LD输出来自一个光发射表面的输出光束,以及来自另一光发射表面的输出光束。在来自一个光发射表面的输出光束的光路上,设置有准直透镜、偏振分束器和反射滤波器。在来自另一光发射表面的输出光束的光路上,设置有准直透镜、偏振光学系统、半反射镜和标准具滤波器。标准具滤波器用作检测输出光束的波长检测单元。

发明内容

根据一个方面的光学组件包括:载体,其安装有温度检测元件和构造为发射激光束的波长可调谐激光器元件;光学检测元件,其构造为检测从波长可调谐激光器元件输出的激光束;温度调节元件,其安装有该载体和该光学检测元件;以及壳体,其容纳温度调节元件,并且具有窗口部,激光束通过窗口部输出。温度检测元件布置在波长可调谐激光器元件与光学检测元件之间。

附图说明

图1是示出根据本发明的实施例的光学组件的内部结构的平面图;

图2是图1中的光学组件的侧剖视图;

图3是示意性地示出图1中的光学组件的波长可调谐激光器元件的横截面的示图;

图4是示意性地示出图1中的光学组件的光学检测元件的构造的示图;

图5是示意性地示出图1中的光学组件的构件的布置的平面图;

图6是示意性地示出图1中的光学组件的构件的布置的侧剖视图;

图7是示意性地示出参考实例的光学组件的构件的布置的平面图;以及

图8是示意性地示出参考实例的光学组件的构件的布置的竖直剖视图。

具体实施方式

在光学组件中,需要减小尺寸。诸如波长可调谐LD等上述波长可调谐激光器元件是光学组件中可能的发热源。因此,光学组件包括TEC(温度调节元件),TEC调节波长可调谐激光器元件以及诸如热敏电阻等温度检测元件的温度。在该光学组件中,布置在与波长可调谐激光器元件相邻的位置处的温度检测元件检测温度,并且TEC根据温度检测元件检测到的温度控制温度。因此,使波长可调谐激光器元件的温度恒定不变,并且实现波长可调谐激光器元件的稳定运行。

然而,在光学组件内部,取决于与可能作为发热源的波长可调谐激光器元件的距离而产生温度偏差。该偏差由于外部环境的温度影响而进一步扩大。因此,例如,在波长可调谐激光器元件过度发热的状态下,TEC执行冷却,从而抑制波长可调谐激光器元件过度发热。因此,在与波长可调谐激光器元件分离的位置处,该状态为过冷状态,并且该温度有时下降。在外部环境的温度低于为TEC设定的温度的情况下,该温度偏差进一步增加。

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