[发明专利]图像处理方法、装置及电子设备有效

专利信息
申请号: 201910621104.7 申请日: 2019-07-10
公开(公告)号: CN110324534B 公开(公告)日: 2021-08-20
发明(设计)人: 陈烨炜;许清泉;张长定;张伟;傅松林 申请(专利权)人: 厦门美图之家科技有限公司
主分类号: H04N5/232 分类号: H04N5/232
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 董艳芳
地址: 361000 福建省厦门市*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 图像 处理 方法 装置 电子设备
【权利要求书】:

1.一种图像处理方法,其特征在于,所述方法包括:

获取待处理图像以及偏移轨迹;

沿所述偏移轨迹,对所述待处理图像上位于所述偏移轨迹周围区域的图像进行多次偏移处理,获得多幅偏移图像;

对多幅所述偏移图像进行图像叠加,获得叠加图像;

获取包括目标物体轮廓的模板图像;

根据所述模板图像从所述待处理图像上获取所述目标物体的图像;

根据所述偏移轨迹将所述目标物体的图像显示在所述叠加图像中的对应位置。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述沿所述偏移轨迹,对所述待处理图像上位于所述偏移轨迹周围区域的图像进行多次偏移处理,获得多幅偏移图像的步骤包括:

根据不同的偏移量,计算该偏移量下位于偏移轨迹周围区域的图像中,各个像素点沿所述偏移轨迹偏移后的像素值,获得偏移图像,所述偏移量为所述偏移轨迹周围区域的总体偏移距离。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述计算该偏移量下位于偏移轨迹周围区域的图像中,各个像素点沿所述偏移轨迹偏移后的像素值,获得偏移图像的步骤包括:

根据所述偏移轨迹,计算获得所述待处理图像中的各个像素点对应的偏移权值,所述偏移权值为所述像素点的偏移比例,越靠近所述偏移轨迹的像素点的偏移权值越大;

根据不同的偏移量,计算该偏移量与各个像素点的偏移权值之积;

根据该偏移量与各个像素点的偏移权值之积计算所述待处理图像中各个像素点对应的偏移像素点;

获取各个像素点对应的偏移像素点的像素值,得到偏移图像。

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述计算该偏移量下位于偏移轨迹周围区域的图像中,各个像素点沿所述偏移轨迹偏移后的像素值,获得偏移图像的步骤包括:

获取与所述偏移轨迹距离为预设距离范围内的各个像素点的偏移权值,其中,所述偏移权值为所述像素点的偏移比例,越靠近所述偏移轨迹的像素点的偏移权值越大;

根据不同的偏移量,计算该偏移量与各个所述像素点的偏移权值之积;

根据该偏移量与各个像素点的偏移权值之积计算所述待处理图像中各个像素点对应的偏移像素点;

获取各个像素点对应的偏移像素点的像素值,得到偏移图像。

5.根据权利要求1-4任一项所述的方法,其特征在于,所述对多幅所述偏移图像进行图像叠加,获得叠加图像的步骤包括:

将各幅偏移图像中,位于同一列、同一行的坐标处的像素点的像素值取平均,获得叠加图像。

6.根据权利要求1-4任一项所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

获取预设的偏移量;

计算所述偏移量与预设偏移倍数之积,获得新的偏移量。

7.根据权利要求1-4任一项所述的方法,其特征在于,所述根据所述偏移轨迹将所述目标物体的图像显示在所述叠加图像中的对应位置的步骤包括:

获取所述目标物体在所述待处理图像中的第一位置;

确定所述叠加图像中与所述第一位置对应的第二位置;

将所述目标物体的图像显示在叠加图像中的所述第二位置上,以使所述目标物体的图像位于所述偏移轨迹末端;

其中,所述目标物体在所述待处理图像中的位置与所述偏移轨迹的末端的位置一致。

8.一种图像处理装置,其特征在于,所述装置包括:

第一获取模块,用于获取待处理图像以及偏移轨迹;

偏移模块,沿所述偏移轨迹,对所述待处理图像上位于所述偏移轨迹周围区域的图像进行多次偏移处理,获得多幅偏移图像;

叠加模块,用于对多幅所述偏移图像进行图像叠加,获得叠加图像;

第二获取模块,用于获取包括目标物体轮廓的模板图像;根据所述模板图像从所述待处理图像上获取所述目标物体的图像;

融合模块,用于根据所述偏移轨迹将所述目标物体的图像显示在所述叠加图像中的对应位置。

9.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括图像采集单元、存储器和处理器,所示图像采集单元与所述存储器、所述处理器分别通信连接,所述存储器与所述处理器通信连接,所述存储器中存储有可执行指令,所述处理器在执行所述可执行指令时,实现如权利要求1-7任一项所述的方法。

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