[发明专利]基于互联网的集成电路测试信息化管理系统

说明书

本发明公开了基于互联网的集成电路测试信息化管理系统，所述信息化管理系统包括若干个移动端、管理端、服务器和数据库，所述服务器包括应用服务器和程序服务器；所述移动端用于录入检测信息并进行检测信息的查询访问，所述管理端用于进行程度维护、数据编辑修改及检测信息的查询访问；所述移动端与应用服务器无线连接，所述管理端与程序服务器无线连接，所述应用服务器、程序服务器无线连接，所述程序服务器与数据库无线连接。本发明设计了一种基于互联网的集成电路测试信息化管理系统，模块设计合理，操作简单，不仅有效实现了集成电路检测信息化管理，有效降低系统工作负担，同时提高了信息的有效利用率，具有较高的实用性。

技术领域

本发明涉及信息管理技术领域，具体是一种基于互联网的集成电路测试信息化管理系统。

背景技术

集成电路是半导体产业的核心，占整个半导体行业规模的80％以上；半导体产业主要包括集成电路(IntegratedCircuit，简称IC)和分立器件两大类，各分支包含的种类繁多且应用广泛。集成电路应用领域覆盖了几乎所有的电子设备，是计算机、家用电器、数码电子、自动化、通信、航天等诸多产业发展的基础，是现代工业的生命线，也是改造和提升传统产业的核心技术。按其功能、结构的不同，集成电路又可以分为模拟集成电路、数字集成电路和数模混合集成电路等。集成电路的生产流程可分为设计、制造、封装与测试三个步骤。

现如今，在集成电路的生产过程中，需要对每一批芯片每一环节的测试结果进行监督和分析，甚至能够通过一些数据的变化趋势预测问题的所在，在良率问题爆发出来以前就采取必要的措施，从而减少甚至避免产品质量的事故,降低芯片生产运营的成本，这是我们亟待解决的问题。

针对上述情况，我们设计了一种基于互联网的集成电路测试信息化管理系统，在实现集成电路检测信息化管理的同时提高信息的有效利用率，具有较高的实用性。

发明内容

本发明的目的在于提供一种基于互联网的集成电路测试信息化管理系统，以解决现有技术中的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种基于互联网的集成电路测试信息化管理系统，所述信息化管理系统包括若干个移动端、若干个管理端、服务器和数据库，所述服务器包括应用服务器和程序服务器；

所述移动端用于录入检测信息并进行检测信息的查询访问，所述管理端用于进行程度维护、数据编辑修改及检测信息的查询访问；

所述若干个移动端与应用服务器无线连接，所述若干个管理端与程序服务器无线连接，所述若干个管理端与应用服务器无线连接，所述应用服务器、程序服务器无线连接，所述程序服务器与数据库无线连接。

本发明中设计了一种基于互联网的集成电路测试信息化管理系统，其中包括移动端、管理端、服务器和数据库，移动端可供集成电路检测人员使用，便于录入检测信息并进行检测信息的查询访问；管理端可供后台管理使用，便于进行程度维护、数据编辑修改及检测信息的查询访问，同时还可以录入所需公布的公告信息，使得移动端能够及时接收指令；应用服务器用于接收移动端的访问请求，并将数据库内的数据通过程序服务器输出至应用服务器，便于移动端和管理端的操作人员有效进行信息的查询；程序服务器可接收各个查询指令或数据分析指令，可有效根据应用服务器的各项需求进行数据的归类、存储、查询导出等操作；数据库可及时存储信息，实现数据的统一化管理和归类。

较优化地，所述移动端包括设计验证模块、圆晶测试管理模块、封装测试管理模块、第一用户管理模块和第一访问模块；

所述设计验证模块用于录入集成电路设计版图，进行设计验证并录入验证信息；所述圆晶测试管理模块用于在晶圆制造完成后进行封装前，对晶圆上的芯片进行功能和电参数性能测试，并录入圆晶测试信息；所述封装测试管理模块用于在芯片完成封装后，对集成电路进行功能和电参数性能测试，并录入电路测试信息；所述第一访问模块用于进行信息上传、查询；