[发明专利]芯片测试方法、装置及电子设备

权利要求书

1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：

从芯片的多个预置时间档位中确定出最小时间档位；

从所述芯片的多个预置电压档位中确定出最小电压档位；

基于所述最小时间档位和所述最小电压档位，对所述芯片进行测试；

判断所述芯片是否通过测试；若所述芯片通过测试，根据所述最小时间档位和所述最小电压档位确定所述芯片的操作条件；

若所述芯片没有通过测试，按照设定顺序从所述多个预置电压档位中确定出所述最小电压档位的下一个电压档位；其中，所述设定顺序为由小到大的顺序；

基于所述最小时间档位和所述下一个电压档位，对所述芯片进行测试；

判断所述芯片是否通过测试；

若所述芯片通过测试，根据所述最小时间档位和所述下一个电压档位确定所述芯片的操作条件；否则，按照所述设定顺序从所述多个预置电压档位中确定出所述下一个电压档位的后一个电压档位；

基于所述最小时间档位和所述后一个电压档位，继续对所述芯片进行测试；

若基于所述最小时间档位和所述多个预置电压档位中的最大电压档位对所述芯片进行测试且所述芯片没有通过测试，按照所述设定顺序从所述多个预置时间档位中确定出所述最小时间档位的下一个时间档位；

基于所述下一个时间档位和所述最小电压档位，对所述芯片进行测试；

判断所述芯片是否通过测试；

若所述芯片通过测试，根据所述下一个时间档位和所述最小电压档位确定所述芯片的操作条件。

2.根据权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，基于所述下一个时间档位和所述最小电压档位，对所述芯片进行测试，判断所述芯片是否通过测试之后，所述方法还包括：

若所述芯片没有通过测试，基于所述下一个时间档位和所述下一个电压档位，对所述芯片进行测试；

判断所述芯片是否通过测试；

若所述芯片通过测试，根据所述下一个时间档位和所述下一个电压档位确定所述芯片的操作条件；否则，基于所述下一个时间档位和所述后一个电压档位，继续对所述芯片进行测试。

3.根据权利要求2所述的芯片测试方法，其特征在于，所述方法还包括：

若基于所述多个预置时间档位中的最大时间档位和所述多个预置电压档位中的最大电压档位对所述芯片进行测试，且所述芯片没有通过测试，将所述芯片归属至测试不通过的类别中。

4.根据权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，所述根据所述最小时间档位和所述最小电压档位确定所述芯片的操作条件，包括：

将所述最小时间档位对应的时长值和所述最小电压档位对应的电压值确定为所述芯片的操作条件；其中，所述电压值为在测试过程中施加到所述芯片上的电压值，所述时长值为在测试过程中施加到所述芯片上的电压值的持续时长。

5.根据权利要求4所述的芯片测试方法，其特征在于，所述方法还包括：

将所述时长和所述电压写入所述芯片的只读存储区域中。