[发明专利]一种风洞洞体高精度无棱镜放样工艺

说明书

本发明公开了一种风洞洞体高精度无棱镜放样工艺，解决现有技术采用传统全站仪测量模式无法满足放样精度要求的问题。本发明采用BIM模型修正法、或者角度与距离双修正法对风洞洞体进行高精度无棱镜放样。本发明构思奇妙、设计科学合理，使用方便，可满足风洞洞体高精度无棱镜放样要求，克服传统全站仪测量模式无法满足放样精度要求的问题，同时还能克服传统全站仪棱镜放样不能在垂直面工作的缺陷，可在多种复杂截面中应用，不仅可在风洞建筑中广泛应用，在其他结构建筑中均有推广使用价值。

技术领域

本发明涉及建筑施工测量领域，具体涉及一种风洞洞体高精度无棱镜放样工艺。

背景技术

风洞，简单来说就是一种产生可控气流的装置，建造的最终目标是要在风洞试验段获得均匀、可控、高品质的试验气流。本发明所在项目属于回流式低速风洞，其有一个连续的空气回路，气流在洞体内进行循环，其中心轴线尺寸为150.86m×45.65m，设计要求洞体回路在全长390m的范围内中轴线偏差不大于10mm(不允许公差累计)、阶差要求不大于3mm(顺气流方向不大于1mm)。风洞为框架梁结构，截面设计形状有八边形、四边形和圆形等，其中收缩段四周洞壁采用多曲率高次曲面造型。整个洞体截面在三维空间尺度上不断变化，形成超长空间异形薄壁结构，洞体截面最大净高20m，最大净宽24m，全高/全宽范围内平面度偏差不超过3mm。洞体內型面平整度要求为每2米范围内偏差不超过1mm。因本工程结构特殊性及高精度要求，传统全站仪测量模式无法满足放样精度要求。

因此，设计一种风洞洞体高精度无棱镜放样工艺，以满足风洞洞体高精度无棱镜放样要求，成为所属技术领域技术人员亟待解决的技术问题。

发明内容

本发明要解决的技术问题是：提供一种风洞洞体高精度无棱镜放样工艺，解决现有技术采用传统全站仪测量模式无法满足放样精度要求的问题。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案如下：

一种风洞洞体高精度无棱镜放样工艺，采用BIM模型修正法、或者角度与距离双修正法对风洞洞体进行高精度无棱镜放样。

具体地说，所述BIM模型修正法包括以下步骤：

步骤1、使用全站仪采集框架柱预放样位置附近的结构面实际坐标；

步骤2、将实际坐标位置放回BIM模型中，将实际位置在BIM模型中模拟出来；

步骤3、标记出理论型面在实际模拟位置的修正坐标，再将修正坐标进行现场放样。

具体地说，所述角度与距离双修正法包括以下步骤：

步骤1、输入理论坐标至全站仪进行放样，调整全站仪角度，保证角度偏差值为0，记录距离偏差值L，并在结构面标记A点位；

步骤2、在水平方向微调全站仪，保证距离偏差值为0，记录角度偏差值Φ，并在结构面标记B点位；

步骤3、记录全站仪建站点坐标XY，将数据L、Φ、XY放回设计图纸，在图纸中量出A、B两点至准确点C的修正值，在现场使用直尺量出A、B点位中间的准确点位C。

更具体地说，所述角度与距离双修正法的计算过程为：根据理论坐标位置和全站仪建站点坐标XY确定范围圆大小，根据距离偏差值L确定A点位置，根据角度偏差值Φ及范围圆确定B点位置，根据A、B点位置确定框架柱实际位置，根据框架柱实际位置及理论型面设计线即可确定修正坐标位置及修正位置距A、B点的水平距离。

与现有技术相比，本发明具有以下有益效果：

本发明构思奇妙、设计科学合理，使用方便，可满足风洞洞体高精度无棱镜放样要求，克服传统全站仪测量模式无法满足放样精度要求的问题，同时还能克服传统全站仪棱镜放样不能在垂直面工作的缺陷，可在多种复杂截面中应用，不仅可在风洞建筑中广泛应用，在其他结构建筑中均有推广使用价值。

附图说明