[发明专利]衍射装置及衍射测量方法

权利要求书

1.一种衍射装置，其特征在于，包括光源发生器、样品载体、探测器和金刚石对顶砧，所述光源发生器能够提供用于测试的X射线，所述探测器用于记录与样品发生衍射后的不同角度的X射线光子数；所述样品载体和所述金刚石对顶砧之间形成封闭的腔体，所述腔体用于放置样品，从所述金刚石对顶砧两侧向对顶方向施压能压迫所述腔体。

2.根据权利要求1所述的衍射装置，其特征在于，所述样品载体上设有贯通所述样品载体两侧的样品腔，所述金刚石对顶砧对应所述样品腔的两端抵持在所述样品载体的两侧，所述金刚石对顶砧和所述样品腔围成所述腔体。

3.根据权利要求1或2所述的衍射装置，其特征在于，包括支架，所述支架上设置有载台和一对压块，所述金刚石对顶砧放置于所述载台上，所述压块用于对所述金刚石对顶砧的两侧施压。

4.根据权利要求3所述的衍射装置，其特征在于，所述支架上设置有调节装置，所述调节装置用于调节所述压块之间的距离。

5.根据权利要求4所述的衍射装置，其特征在于，所述调节装置包括气囊压力控制装置，所述气囊压力控制装置包括流量控制器、充气气囊和气流管路，所述充气气囊设置在所述压块的一侧，所述气流管路连通于所述充气气囊，所述流量控制器设置在所述气流管路上。

6.根据权利要求1所述的衍射装置，其特征在于，还包括用于为样品提供温度条件的温度控制系统。

7.根据权利要求6所述的衍射装置，其特征在于，所述温度控制系统包括加热系统，所述加热系统包括激光发生器，所述激光发生器用于向样品发射激光。

8.根据权利要求7所述的衍射装置，其特征在于，所述加热系统还包括加热装置，所述加热装置用于对所述腔体加热。

9.根据权利要求6所述的衍射装置，其特征在于，所述温度控制系统还包括冷却系统，所述冷却系统用于为所述腔体降温。

10.根据权利要求9所述的衍射装置，其特征在于，所述冷却系统包括冷却管路，所述冷却管路用于连通冷却气源从而向所述金刚石对顶砧输送冷却气体。

11.根据权利要求6所述的衍射装置，其特征在于，所述温度控制系统还包括温度采集单元，通过所述温度采集单元能够采集所述腔体内的温度。

12.根据权利要求1所述的衍射装置，其特征在于，还包括输出单元，所述输出单元能够可视化显示所述探测器采集的数据。

13.一种利用权利要求1至12中任意一项所述的衍射装置进行的衍射测量方法，其特征在于，包括：

常压下将样品放置于所述腔体内；

建立坐标原点并确定衍射中心；

使样品位于衍射中心，对金刚石对顶砧施压以使所述腔体内的压力达到设定压力值；

开启光源发生器，向衍射中心发射X射线，探测器采集数据；

关闭光源发生器，改变对金刚石对顶砧施压的压力以改变所述腔体内的压力值，开启光源发生器，向衍射中心发射X射线，探测器采集数据；

变换不同压力值重复测试若干次，得到样品在各压力下的X射线衍射数据。

14.根据权利要求13所述的衍射测量方法，其特征在于，所述探测器绕衍射中心做弧形运动，角度扫描范围连续可调。