[发明专利]总线监控装置及方法、存储介质、电子装置

说明书

本发明提供了一种总线监控装置及方法、存储介质、电子装置，其中，总线监控装置包括：多个监控模块，设置在总线之中，每一个监控模块分别配置为设置在总线中的一个待测子系统之中；其中，多个监控模块之间采用环形拓扑结构进行串接；控制模块，用于获取测试向量，并根据测试向量下发测试报文至多个监控模块之间进行传输；监控模块用于执行测试报文，并获取待测子系统的测试信息，其中，待测子系统的测试信息用于指示监控模块执行测试报文时，待测子系统的总线的信息。通过本发明，解决了相关技术中芯片系统无法在运行过程中对于节点进行实时监控的技术问题，以达到可在芯片系统运行过程中对于节点进行实时监控的效果。

技术领域

本发明涉及电子领域，具体而言，涉及一种总线监控装置及方法、存 储介质、电子装置。

背景技术

随着通信产品应用需求的更新换代，芯片系统的集成度越来越高，芯 片系统内部的总线的复杂度也越来越高，对于系统内总线的调试和定位一 直是困扰芯片前端设计、电子设计自动化(Electronics Design Automation， EDA)、现场可编程门阵列(Field－Programmable Gate Array，FPGA)、 硬件加速器验证、芯片软件开发及调试等等的主要问题。

目前，相关技术中，业界已经开发出的总线监控技术主要原理是选择 记录总线节点的所有行为，然后通过组包、压缩后形成数据流，送入芯片 系统内部的缓存进行存储，或者通过芯片系统的端口送到片外的存储模块 进行存储，该功能业界一般称为追踪(Trace)方法，类似于示波器做信号 采样存储，然后事后恢复出来以供调试人员分析。业界大的芯片公司，一 般都采用自行开发的总线调试系统，包括工具链等等，例如ARM公司定 义了用于总线的调试组件Coresight。上述ARM公司的总线调试技术(调 试组件)仍与目前相关技术中的监控方式类似，在原理上不能支持实时定 位问题，而是属于事后的被动调试方式，具体而言，在芯片系统运行中出 现其他问题后，测试人员可以通过查看总线的历史记录，在事后进行分析， 从而定位出哪里出现了问题，其分析定位的工作量和要求都比较高。

此外，由于上述ARM公司的总线调试技术需要使用ARM公司的工 具链支持，故调试方需要付费购买ARM公司的产品，而不能支持自行定 位新的追踪内容，无法独立测试总线上每个硬件单元，灵活性较差，不能 快速定位总线出现问题的节点，降低了工作效率。

针对相关技术中，芯片系统无法在运行过程中对于节点进行实时监控 的技术问题，相关技术中暂未提出解决方案。

发明内容

本发明实施例提供了一种总线监控装置及方法、存储介质、电子装置， 以至少解决相关技术中，芯片系统无法在运行过程中对于节点进行实时监 控的技术问题。

根据本发明的一个实施例，提供了一种总线监控装置，包括：

多个监控模块，设置在总线之中，每一个所述监控模块分别配置为设 置在所述总线中的一个待测子系统之中；其中，多个所述监控模块之间采 用环形拓扑结构进行串接；

控制模块，用于获取测试向量，并根据所述测试向量下发测试报文至 所述多个监控模块之间进行传输；

所述监控模块用于执行所述测试报文，并获取所述待测子系统的测试 信息，其中，所述待测子系统的所述测试信息用于指示所述监控模块执行 所述测试报文时，所述待测子系统的总线的信息。

根据本发明的另一个实施例，还提供了一种总线监控方法，应用于控 制模块，所述方法包括：

在总线中设置多个监控节点，每一个所述监控节点设置在所述总线中 的一个待测子系统之中；其中，多个所述监控节点之间采用环形拓扑结构 进行串接；

获取测试向量，并根据所述测试向量下发测试报文至所述多个监控节 点之间进行传输；