[发明专利]受光元件以及测距模块在审
| 申请号: | 201910574977.7 | 申请日: | 2019-06-28 |
| 公开(公告)号: | CN110739321A | 公开(公告)日: | 2020-01-31 |
| 发明(设计)人: | 村瀬拓郎;渡辺竜太;若野寿史;丸山卓哉;大竹悠介;井本努;矶谷优治 | 申请(专利权)人: | 索尼半导体解决方案公司 |
| 主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;G01S7/487;G01S7/491;G01S17/08 |
| 代理公司: | 11290 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 崔迎宾;李雪春 |
| 地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 电压施加部 抽头 受光元件 电荷检测部 半导体层 片上透镜 布线层 配置 测距模块 距离信息 信号检测 相位差 检测 应用 | ||
1.一种受光元件,其特征在于,
所述受光元件具备:
片上透镜;
布线层;以及
半导体层,配置在所述片上透镜与所述布线层之间,
所述半导体层具备:
第一抽头,具有第一电压施加部以及配置在该第一电压施加部的周围的第一电荷检测部;以及
第二抽头,具有第二电压施加部以及配置在该第二电压施加部的周围的第二电荷检测部,
使用由所述第一抽头和所述第二抽头检测到的信号检测相位差。
2.根据权利要求1所述的受光元件,其特征在于,
所述布线层至少具有具备反射部件的1层,
所述反射部件被设置成在俯视观察时与所述第一电荷检测部或者所述第二电荷检测部重叠。
3.根据权利要求1所述的受光元件,其特征在于,
所述布线层至少具有具备遮光部件的1层,
所述遮光部件被设置成在俯视观察时与所述第一电荷检测部或者所述第二电荷检测部重叠。
4.根据权利要求1所述的受光元件,其特征在于,
所述片上透镜以1个像素为单位设置。
5.根据权利要求4所述的受光元件,其特征在于,
在所述片上透镜与所述半导体层之间还具备对像素区域的单侧一半进行遮光的相位差遮光膜。
6.根据权利要求1所述的受光元件,其特征在于,
所述片上透镜以多个像素为单位设置。
7.根据权利要求6所述的受光元件,其特征在于,
在所述片上透镜与所述半导体层之间还具备对一个所述片上透镜下方的多个像素的单侧一半进行遮光的相位差遮光膜。
8.根据权利要求1所述的受光元件,其特征在于,
还具备向所述第一电压施加部和所述第二电压施加部的双方供给正的电压的驱动部。
9.根据权利要求8所述的受光元件,其特征在于,
向所述第一抽头和所述第二抽头供给的所述正的电压,越靠近像素阵列部的外侧则越设置电位差。
10.根据权利要求1所述的受光元件,其特征在于,
所述第一电压施加部和所述第二电压施加部分别由形成于所述半导体层的第一P型半导体区域和第二P型半导体区域构成。
11.根据权利要求1所述的受光元件,其特征在于,
所述第一电压施加部和所述第二电压施加部分别由形成于所述半导体层的第一传输晶体管和第二传输晶体管构成。
12.一种受光元件,其特征在于,
所述受光元件具备:
片上透镜;
布线层;
半导体层,配置在所述片上透镜与所述布线层之间;以及
偏振器,配置在所述片上透镜与所述半导体层之间,
所述半导体层具备:
第一抽头,具有第一电压施加部以及配置在该第一电压施加部的周围的第一电荷检测部;以及
第二抽头,具有第二电压施加部以及配置在该第二电压施加部的周围的第二电荷检测部。
13.根据权利要求12所述的受光元件,其特征在于,
所述布线层至少具有具备反射部件的1层,
所述反射部件被设置成在俯视观察时与所述第一电荷检测部或者所述第二电荷检测部重叠。
14.根据权利要求12所述的受光元件,其特征在于,
所述布线层至少具有具备遮光部件的1层,
所述遮光部件被设置成在俯视观察时与所述第一电荷检测部或者所述第二电荷检测部重叠。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
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H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的





