[发明专利]一种内存巡检方法及相关装置

说明书

本申请公开了一种内存巡检方法，包括：当接收到内存巡检指令时，内存刷新控制装置获取刷新数据；对所述刷新数据进行校验纠错处理，得到校验后刷新数据；将所述校验后刷新数据写入内存刷新电路中，以便根据内存刷新规则将所述校验后刷新数据写入内存中。通过当内存刷新控制装置在执行刷新操作时，将读取到的数据进行校验纠错处理，实现对内存数据的校验纠错，并且在该过程中和内存刷新共同操作只需要获取一次内存数据，避免了内存巡检操作还需要再获取数据的过程，降低了内存数据获取次数，简化了内存时序，降低了内存性能损失，提高了系统运行效率。本申请还公开了一种内存巡检系统、计算机设备以及计算机可读存储介质，具有以上有益效果。

技术领域

本申请涉及计算机技术领域，特别涉及一种内存巡检方法、内存巡检系统、计算机设备以及计算机可读存储介质。

背景技术

随着信息技术的不断发展，计算机设备的性能越来越高。内存的存储容量越来越高，数据读写速度越来越快。相应的，内存中出现错误的频率和概率就越来越高，需要对内存中数据进行数据巡检操作。

因此，现有技术中在处理器的IMC(integrated memory controller内存控制处理器)上设置有一个引擎，周期性的读取内存数据，对内存中的数据进行ECC(ErrorCorrecting Code检查错误和纠正)校验。如果读取的数据校验正确，则再写回内存。如果校验不正确，是可纠正错误，则纠正后写回内存。该数据巡检操作可以有效地防止错误积累，在错误还没累积起来，并进入执行路径前，就将错误修正，不会积累后变成不可纠正错误。

但是，随着内存设备的不断升级，内存设备采用动态内存(SDRAM synchronousdynamic random-access memory动态内存)进行数据处理。该动态内存中的每个存储单元的数据必须进行周期性的刷新操作，防止出现漏电流的影响。具体的是在预设周期内将内存中的数据内容读取出来，然后再写回内存中。可见，该动态内存的刷新操作和数据巡检操作同时进行时，均需要占用总线内存，导致内存性能损失。

因此，如何降低执行刷新操作和数据巡检操作时的内存性能损失，是本领域技术人员关注的重点问题。

发明内容

本申请的目的是提供一种内存巡检方法、内存巡检系统、计算机设备以及计算机可读存储介质，通过将内存巡检操作运行在内存刷新操作内，简化了内存时序，降低了性能损失，提高了系统运行效率。

为解决上述技术问题，本申请提供一种内存巡检方法，包括：

当接收到内存巡检指令时，内存刷新控制装置获取刷新数据；

对所述刷新数据进行校验纠错处理，得到校验后刷新数据；

将所述校验后刷新数据写入内存刷新电路中，以便根据内存刷新规则将所述校验后刷新数据写入内存中。

可选的，当接收到内存巡检指令时，内存刷新控制装置获取刷新数据，包括：

当接收到所述内存巡检指令时，所述内存刷新控制装置根据接收到的内存刷新地址从内存获取到所述刷新数据。

可选的，还包括：

内存控制器按照预设周期向所述内存刷新控制装置发送所述内存刷新地址。

可选的，当接收到内存巡检指令时，内存刷新控制装置获取刷新数据，包括：

当接收到所述内存巡检指令时，所述内存刷新控制装置判断所述内存刷新电路中是否存在刷新数据；

若是，则从所述内存刷新电路中截取所述刷新数据。

可选的，还包括：

当所述内存刷新电路中不存在所述刷新数据时，向内存控制器进行地址请求，得到内存刷新地址；