[发明专利]一种有效提高NAND启动使用寿命的方法及其系统

权利要求书

1.一种有效提高NAND启动使用寿命的方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1，芯片启动，完成初始化；

S2，从NAND颗粒固定地址X₀中读取固件的地址信息；

S3，判断读取是否成功；若是，进入S5；若否，则进入S4；

S4，选取固定地址X₀的下一个固定地址X_n进行读取，并返回S3；

S5，从读出的地址中读取引导程序，并进行校验；

S6，判断校验是否成功；若是，进入S7；若否，则返回S4；

S7，运行固件。

2.根据权利要求1所述的一种有效提高NAND启动使用寿命的方法，其特征在于，所述S1包括：

S11，进行芯片启动；

S12，完成初始化。

3.根据权利要求1所述的一种有效提高NAND启动使用寿命的方法，其特征在于，所述S4之后，还包括：判断下一个固定地址X_n是否为最后一个固定地址；若是，返回S3；若否，则选取下一个固定地址X_n的后续地址进行读取，并返回S3。

4.根据权利要求3所述的一种有效提高NAND启动使用寿命的方法，其特征在于，所述S4之后，还包括：判断固定地址X_n是否读取成功；若是，进入S5；若否，则对存储固件的位置进行修改。

5.根据权利要求4所述的一种有效提高NAND启动使用寿命的方法，其特征在于，所述S5之后，还包括：判断从固定地址X_n中读取的引导程序是否校验成功；若是，运行固件；若否，则对存储固件的位置进行修改。

6.根据权利要求4所述的一种有效提高NAND启动使用寿命的方法，其特征在于，所述X_n中的n至少大于等于2。

7.一种有效提高NAND启动使用寿命的系统，其特征在于，包括：启动完成单元，读取单元，第一判断单元，选取单元，校验单元，第二判断单元，及运行单元；

所述启动完成单元，用于芯片启动，完成初始化；

所述读取单元，用于从NAND颗粒固定地址X₀中读取固件的地址信息；

所述第一判断单元，用于判断读取是否成功；

所述选取单元，用于选取固定地址X₀的下一个固定地址进行读取；

所述校验单元，用于从读出的地址中读取引导程序，并进行校验；

所述第二判断单元，用于判断校验是否成功；

所述运行单元，用于运行固件。

8.根据权利要求7所述的一种有效提高NAND启动使用寿命的系统，其特征在于于，所述启动完成单元包括启动模块和完成模块；

所述启动模块，用于芯片启动；

所述完成模块，用于完成芯片初始化。

9.根据权利要求7所述的一种有效提高NAND启动使用寿命的系统，其特征在于，还包括第三判断单元，用于判断下一个固定地址X_n是否为最后一个固定地址。

10.根据权利要求9所述的一种有效提高NAND启动使用寿命的系统，其特征在于，还包括：第四判断单元和第五判断单元；

所述第四判断单元，用于判断固定地址X_n是否读取成功；

所述第五判断单元，用于判断从固定地址X_n中读取的引导程序是否校验成功。