[发明专利]设备电压暂降免疫度测试方法、装置、计算机设备和介质

权利要求书

1.一种设备电压暂降免疫度测试方法，所述方法包括：

设置测试条件，所述测试条件包括待测设备工况和电压暂降特征；

持续施加预设时间的电压暂降于待测设备，通过二分法确定待测设备可容忍的电压暂降残余电压阈值；

基于预设暂降持续时间改变步长，由电压暂降持续时间开始逐步减小持续时间进行测试直至暂降持续时间阈值，在残余电压为0％至预设电压暂降残余电压阈值内，通过二分法确定所述待测设备可容忍的残余电压最小值，预设暂降持续时间改变步长中前期的改变步长大于后期的改变步长；

调整测试条件，返回所述持续施加预设时间的电压暂降于待测设备的步骤，得到所述待测设备在不同测试条件下对应的可容忍的电压暂降残余电压阈值以及可容忍的残余电压最小值；

根据所述待测设备在不同测试条件下对应的可容忍的电压暂降残余电压阈值以及可容忍的残余电压最小值，得到所述待测设备对应的电压暂降免疫度测试结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述持续施加预设时间的电压暂降于待测设备，通过二分法确定待测设备可容忍的电压暂降残余电压阈值包括：

持续施加预设电压暂降最大持续时间的电压暂降于所述待测设备，在残余电压90％至0％区间内，通过二分法确定待测设备可容忍的电压暂降残余电压阈值。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测设备在不同测试条件下对应的可容忍的电压暂降残余电压阈值以及可容忍的残余电压最小值，得到所述待测设备对应的电压暂降免疫度测试结果包括：

根据所述待测设备在不同测试条件下对应的可容忍的电压暂降残余电压阈值以及残余电压最小值，绘制不同测试条件对应的电压暂降容忍度曲线；

根据不同测试条件对应的电压暂降容忍度曲线，得到所述待测设备对应的电压暂降免疫度测试结果。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述持续施加预设时间的电压暂降于待测设备，通过二分法确定待测设备可容忍的电压暂降残余电压阈值包括：

持续施加预设时间的电压暂降于待测设备，采用二分法进行多次测试，确定待测设备可容忍的电压暂降残余电压阈值。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测设备工况包括设备负载率与运转方向，所述电压暂降特征包括电压暂降起始角、相位跳变、谐波畸变率、电压暂降前电压、残余电压、持续时间以及连续电压暂降。

6.一种设备电压暂降免疫度测试装置，其特征在于，所述装置包括：

条件设置模块，用于设置测试条件，所述测试条件包括待测设备工况和电压暂降特征；

第一测试模块，用于持续施加预设时间的电压暂降于待测设备，通过二分法确定待测设备可容忍的电压暂降残余电压阈值；

第二测试模块，用于基于预设暂降持续时间改变步长，由电压暂降持续时间开始逐步减小持续时间进行测试直至暂降持续时间阈值，在残余电压为0％至预设电压暂降残余电压阈值内，通过二分法确定所述待测设备可容忍的残余电压最小值，预设暂降持续时间改变步长中前期的改变步长大于后期的改变步长；

循环测试模块，用于调整测试条件，控制所述第一测试模块和所述第二测试模块执行对应操作，得到所述待测设备在不同测试条件下对应的可容忍的电压暂降残余电压阈值以及可容忍的残余电压最小值；

测试结果模块，用于根据所述待测设备在不同测试条件下对应的可容忍的电压暂降残余电压阈值以及可容忍的残余电压最小值，得到所述待测设备对应的电压暂降免疫度测试结果。

7.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至5中任一项所述方法的步骤。

8.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至5中任一项所述的方法的步骤。