[发明专利]一种用于研究磁线圈束流的实验装置有效
申请号: | 201910558907.2 | 申请日: | 2019-06-26 |
公开(公告)号: | CN110364060B | 公开(公告)日: | 2021-03-23 |
发明(设计)人: | 汤海滨;刘一泽;陈志远;章喆;王一白;任军学 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G09B23/18 | 分类号: | G09B23/18 |
代理公司: | 北京航智知识产权代理事务所(普通合伙) 11668 | 代理人: | 黄川;史继颖 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 研究 线圈 实验 装置 | ||
1.一种用于研究磁线圈束流的实验装置,其特征在于,包括空心阴极、霍尔推力器、型材、截流盘、磁线圈、线圈骨架、等离子体诊断系统,其中,
所述空心阴极与所述霍尔推力器分别通过电路、气路及机械连接;
所述型材将所述截流盘和所述线圈骨架吊装并固定在所述霍尔推力器与所述等离子体诊断系统之间;所述霍尔推力器、所述截流盘、所述线圈骨架三者同轴,所述截流盘的外凸面朝向所述霍尔推力器,所述截流盘的内凹面朝向所述线圈骨架;
所述截流盘的外凸面和所述线圈骨架之间保持一定安装距离;
所述截流盘中心开设有截流孔,所述截流盘中心开设的截流孔的半径确定方式如下:在不受磁场约束条件下,使用所述等离子体诊断系统获取所述霍尔推力器靠近所述截流盘一端轴向距离400mm-800mm范围内的离子密度径向分布,离子密度径向分布曲线随着距离所述霍尔推力器轴向距离的增加而由倒V形转变为M形,转变过程中离子密度在径向距离为R的位置均匀分布,所述截流盘中心开设的截流孔的半径小于所述的径向距离R;
所述磁线圈绕在所述线圈骨架上;
所述等离子体诊断系统包含法拉第探针、朗缪尔探针、阻滞能量分析仪、位移机构及其控制器、数据采集仪、探针电源,所述等离子体诊断系统的位移机构的行程覆盖范围为距离所述线圈骨架靠近所述等离子体诊断系统一端的轴向距离100mm-300mm,径向距离0mm-500mm。
2.根据权利要求1所述的一种用于研究磁线圈束流的实验装置,其特征在于,所述截流盘中心开设的截流孔的半径为5mm-20mm。
3.根据权利要求1或2所述的一种用于研究磁线圈束流的实验装置,其特征在于,所述截流盘的外凸面与所述磁线圈骨架之间的安装间距为10mm-15mm。
4.根据权利要求1或2所述的一种用于研究磁线圈束流的实验装置,其特征在于,所述线圈骨架在轴线方向的长度为40mm-45mm,所述线圈骨架具有圆筒状的绕芯,所述绕芯内径为40mm-100mm、外径大于所述截流盘上的截流孔内径的5倍,所述线圈骨架的剖面呈工字型,所述线圈骨架的第一端靠近所述截流盘的内凹面,所述线圈骨架的第二端通过螺栓和螺母固定连接在所述型材上。
5.根据权利要求1所述的一种用于研究磁线圈束流的实验装置,其特征在于,所述截流盘的外侧有与所述截流盘的轴心成45°的盘沿。
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