[发明专利]嵌入式系统的自动化测试系统及方法

说明书

本发明公开了嵌入式系统的自动化测试系统及方法，涉及嵌入式系统测试技术领域。所述系统包括：测试目标；测量前述测试目标的待测量数据的多个测量仪器；测量转换电路，其包括多路开关转换矩阵和控制开关，通过控制开关的通断来连接任意测量仪器和任意测试目标；上位机，用于采集测试项信息，并根据测试项信息控制测量转换电路上的控制开关通断，从而使得相应的测量仪器和测试目标连通；以及控制测量仪器进入测量状态，并控制测试目标进入待测试项运行状态，获取测量数据。本发明具有实现成本低，易于扩展，可以进行大规模自动化测试，有效的降低了人力测试成本及测试时间。

技术领域

本发明涉及嵌入式系统测试技术领域。

背景技术

嵌入式系统的设计中，芯片验证是保证芯片是否达到设计预期的必要手段，完备且高效的芯片验证方法能够加快迭代速率，进而确认芯片设计的正确性。同时随着嵌入式系统规模变得越来越大，不论是对芯片设计还是芯片验证都带来了更大得挑战，而嵌入式系统的测试通常需要借助大量的外部仪器来测量大量的待测试数据，比如电压、电流、电阻、电容及时钟等信号数据。

目前，嵌入式系统的测试装置通常包括以下三种实现形式：

1)一种是全人力测试。其使用单一测量仪器，变换不同的待测目标得到测量数据后，在手工转换其它的测试仪器以测量不同的待测目标。

2)一种是半自动化测试。其使用若干个测量仪器预先连接不同的待测目标上，然后程控这些测量仪器以完成不同待测目标的测量任务。

3)一种是设置多选多的程控开关。其需要用户自己设计外部的电路板，使用这个多选多的程控开关自己设计出多选多的拓扑结构。

上述方法存在如下缺陷：对于非自动化测试方案，需要测量仪器和待测量目标直接相连，不能做到测量仪器和测量目标分离，需要频繁进行更换测量仪器和测量目标的操作，操作效率较低。对于现有的自动化测试方案3)，使用时需要用户设计外部连接电路，如果没有外部电路支持就无法实现可扩展的拓扑结构。另一方面，目前的自动化测试方案中通常使用继电器实现开关控制，继电器是机械开关，具有机械磨损且体积较大，且使用之前还需要外部仪器检测继电器的工作是否正常。同时，继电器的开与关的速度比较缓慢(毫米级)，难以完成高速通断的测量测试项，并且需要较大的驱动电路来驱动通断，耗费了较大的功耗。

发明内容

本发明的目的在于：克服现有技术的不足，提供了一种嵌入式系统的自动化测试系统及方法。本发明具有实现成本低，易于扩展，可以进行大规模自动化测试，有效的降低了人力测试成本及测试时间。

为实现上述目标，本发明提供了如下技术方案：

一种嵌入式系统的自动化测试系统，包括：

测试目标；

多个测量仪器，用以测量前述测试目标的待测量数据；

测量转换电路，其包括多路开关转换矩阵和控制开关，将所有测量仪器和测试目标同时连接在该转换矩阵上，通过控制开关的通断来连接任意测量仪器和任意测试目标；

上位机，用于采集测试项信息，并根据测试项信息控制测量转换电路上的控制开关通断，从而使得相应的测量仪器和测试目标连通；以及控制测量仪器进入测量状态，并控制测试目标进入待测试项运行状态，获取测量数据。

进一步，所述测量转换电路包括多个多路开关转换矩阵，对多路开关转换矩阵进行拓扑扩展使其级联扩展出更多的测量点。

进一步，在行方向上扩展时，相邻两个多路开关转换矩阵通过上侧或下侧的测量点连通；和/或，

在列方向上扩展时，相邻两个多路开关转换矩阵通过左侧或右侧的测量点连通。

进一步，所述控制开关为二极管和/或三极管。