[发明专利]一种激光雷达光学组装件检测工装

说明书

本申请涉及激光雷达检测领域，尤其涉及一种激光雷达光学组装件检测工装。本申请包括底座、支架、检测调节结构、背景板，所述的支架、背景板设置在底座上且距离可调节，所述的检测调节结构设置在支架上，用于设置待测光学组装件、检测用电路板，所述检测用电路板包括一光源，光源位于待测光学组装件的焦点上，所述的光源发射光经待测光学组装件照射到背景板上。本申请实施例检测电路板上光源经由待测光学组装件成像在对应距离上的背景板上，当待测光学组装件中透镜或结构件发生变化或者未精密装配导致光学系统失焦时，背景板上的图像会发生对应的变化，从而有效检测出元件被更改或装配不合格的待测光学组装件。

技术领域

本发明申请涉及激光雷达检测技术领域，尤其涉及一种激光雷达光学组装件检测工装。

背景技术

激光测距雷达，是以发射激光探测目标的位置、速度等特征量的雷达系统。其工作原理是向目标发射激光，然后将接收到的从目标反射回来的信号(目标回波)进行处理、计算后，就可获得目标的距离、方位等有关信息。

为了让激光能更好的被发射和接收，在发射元器件和接收coms前端设置光学组装件（透镜组）从而改变光线方向，让发射和接收的光线角度满足产品的需求。

光学组装件一般包括透镜和用于固定透镜的结构件，由于光学组装件中的透镜和结构件在加工的时候有误差，以及透镜和结构件在组装的时候也有误差，当累计误差超过设计允许范围时，生产出的产品基本都是不合格品，为此需要对光学组装件进行检测。

现有技术中对光学组装件的检测是分开进行的。光学透镜需要单独检测直径、焦距等重要参数，结构件需要全面测量各个重要尺寸。但实际生产和检测时，单个光学器件的合格率并不能确保装配后的光学组装件仍满足性能需求。不合格的光学组装件无法被直观检测出，通常会在生产工艺最后阶段，在被组装成完整的雷达仪器后，因无法通过性能检测而作为整机不良品报废或处理。这将严重浪费生产资源。特别是在大批次生产前期，工艺的不稳定性可能造成当前整个批次出现大比例的光学组装件不合格问题，这就更需要能检测光学组装件整体性能的装置。

发明内容

本申请实施例在于提出一种激光雷达光学组装件检测工装，解决现有技术不能有效检测激光雷达光学组装件的问题。

为达此目的，本发明申请实施例采用以下技术方案：

一方面，一种激光雷达光学组装件检测工装，包括底座、支架、检测调节结构、背景板，所述的支架、背景板设置在底座上且距离可调节，所述的检测调节结构设置在支架上，用于设置待测光学组装件、检测用电路板，所述检测用电路板包括一光源，光源位于待测光学组装件的焦点上，所述的光源发射光经待测光学组装件照射到背景板上。

在一种可能的实现方式中，所述的检测调节结构包括基座、导柱、滑块、滑轨、拉杆、压簧，所述的基座具有第一固定台、第二固定台，其中第一固定台用于设置待测光学组装件，所述的导柱设置在两个固定台之间，两个固定台之间设有滑轨，滑轨上设置滑块，滑块与导柱滑动连接，滑块接近待测组装件的一面用于设置检测用电路板，远离待测组装件一面上设置有拉杆，在远离待测组装件一面与第二固定台之间的导柱上设置有压簧。

在一种可能的实现方式中，所述的支架、背景板之间的距离为0.5米-2米。

在一种可能的实现方式中，所述的待测光学组装件和检测用电路板之间为间隙配合，配合公差数值为-0.002到+0.002mm。

在一种可能的实现方式中，所述的第一固定台上开设有安装槽，用于设置待测组装件。

在一种可能的实现方式中，所述的滑块接近待测组装件一面上开设有安装槽，用于设置检测用电路板。

在一种可能的实现方式中，所述的光源为可见光光源或红外光源。

在一种可能的实现方式中，所述的可见光光源波长为400-760nm。