[发明专利]一种阶梯平面距离及孔深度测量装置

说明书

本发明属于机械加工测量装置技术领域，尤其涉及一种阶梯平面距离及孔深度测量装置，包括测量基板、测量杆、信号调理器和计算机，所述测量基板的两侧分别设置有固定挡板和滑动挡板，所述滑动挡板靠近或远离固定挡板移动，所述滑动挡板上设置有用于锁止定位滑动挡板的锁止组件；所述测量基板上贯穿有测量孔，所述测量杆滑动穿过测量孔，所述测量杆的滑动方向垂直于测量基板，所述测量杆靠近固定挡板的一端为测量端，所述测量杆远离固定挡板的一端设置有位移传感器；所述信号调理器用于接收位移传感器传送的信号，并进行信号的放大和过滤，所述信号调理器通过数据处理器与所述计算机电连接。

技术领域

本发明属于机械加工测量装置技术领域，尤其涉及一种阶梯平面距离及孔深度测量装置。

背景技术

随着用户需求的越来越高，以往一些对测量要求不高的方面也开始提高要求，例如阶梯平面间的距离以及孔深度等，原先对于这些方面的测量要求不是很高，只需要使用如游标卡尺一类的传统测量装置，如游标卡尺可以采用其深度尺测量阶梯平面间的距离以及孔深度，但是其精度往往达不到要求，不同操作人员使用游标卡尺测量会有测量差异，导致测量结果不同，而且还受到工件上结构的约束，测量不方便效率较低，不适合大批量检测，而现有的一些测量装置能够达到要求，如三坐标测量能够准确的测量，并且具有很高的精度，但它检测成本高，不适合大批量检测。为了能够提高检测的效率，同时又能降低成本，因此，本发明提供一种阶梯平面距离及孔深度测量装置能够克服目前存在问题，使测量更加高效，操作简单，结果精确，适用范围较广，有一定的市场推广前景。

发明内容

为解决现有技术存在的检测阶梯平面距离以及孔深度的测量装置不适合大批量检测的问题，本发明提供一种阶梯平面距离及孔深度测量装置。

为解决上述技术问题，本发明所采用的技术方案如下，一种阶梯平面距离及孔深度测量装置，包括测量基板、测量杆、信号调理器和计算机，所述测量基板的两侧分别设置有固定挡板和滑动挡板，所述滑动挡板靠近或远离固定挡板移动，所述滑动挡板上设置有用于锁止定位滑动挡板的锁止组件；所述测量基板上贯穿有测量孔，所述测量杆滑动穿过测量孔，所述测量杆的滑动方向垂直于测量基板，所述测量杆靠近固定挡板的一端为测量端，所述测量杆远离固定挡板的一端设置有位移传感器；

所述信号调理器用于接收位移传感器传送的信号，并进行信号的放大和过滤，所述信号调理器通过数据处理器与所述计算机电连接。

作为优选，所述测量孔的数量为两个，两个所述测量孔沿固定挡板的长度方向分布。可以减少移动测量基板实现两个阶梯面相对于基准面距离的测量，简化测量操作，提高测量效率。

作为优选，所述测量杆与测量孔螺纹连接。便于测量杆相对于测量基板滑动和锁止定位，结构简单可靠，操作便捷，成本低。

进一步地，所述测量基板上开设有燕尾槽，所述滑动挡板上延伸有与燕尾槽滑动配合的燕尾滑块。提高滑动挡板在测量基板上的滑动精度，提高该测量装置的测量精度。

进一步地，所述锁止组件包括锁紧螺钉，所述锁紧螺钉与滑动挡板螺纹连接，且所述锁紧螺钉朝向滑动挡板的滑动方向。锁止组件的机构简单可靠，操作便捷，成本低。

有益效果：本发明的阶梯平面距离及孔深度测量装置，利用了位移传感器、信号调理器和数据处理器等新技术检测方式，其中位移传感器的信息通过信号调理器和数据处理器的处理，能够检测阶梯平面的距离以及孔的深度，与传统技术相比，其检测精度高、数据准确，与其它一些高精密的测量仪器例如三坐标测量仪相比，其结构简单、成本较低，可用于大批量检测；本发明的阶梯平面距离及孔深度测量装置，由于采用传感技术，测量更加高效，操作更加简单，节省更多时间；本发明的阶梯平面距离及孔深度测量装置，当基准平面两端均有待测阶梯平面时，可以实现减少拆卸测量基板的次数测量两个阶梯平面相对于基准平面的距离，大大的提高测量效率，节省测量时间；当测量通孔或阶梯孔的深度时，只需将原有的测量装置进行适当的调整就能进行测量，不需重新更换测量装置，大大简化操作过程，使得测量更加高效，同时也降低了成本。