[发明专利]一种物体三维形貌测量方法、系统和计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种物体三维形貌测量方法，其特征在于，包括：

接收外界阳光，并将其作为测量用的光源；

将所述阳光照射在具有预设图案的模板上，以形成对应的阴影图案；将所述阳光照射在具有预设图案的模板上，还包括：通过至少一个反射镜改变外界阳光的照射路线，并使改变后的阳光照射在具有预设图案的模板上；

将所述阴影图案投影在被测物体上；

拍摄被所述阴影图案投影的被测物体，以得到对应的变形图案；

采用相移法计算得出所述变形图案上变形条纹的相位；采用相移法计算得出所述变形图案上变形条纹的相位，还包括：

通过旋转反射镜使所述阴影图案的条纹发生相移；

结合所述被测物体的纹理和计算得出的相位进行双目匹配，以获取所述被测物体的三维形貌。

2.根据权利要求1所述的一种物体三维形貌测量方法，其特征在于，将所述阴影图案投影在被测物体上，还包括：

通过至少一个反射镜改变所述阴影图案的投影路线，并使改变后的阴影图案投影在所述被测物体上。

3.根据权利要求1或2所述的一种物体三维形貌测量方法，其特征在于，采用相移法计算得出所述变形图案上变形条纹的相位，还包括：

采用傅里叶变换轮廓术求出每幅相移条纹的相位，再对相邻两幅相位作差，计算得出相移量；

根据计算得出的相移量，采用最小二乘法计算得出变形条纹的相位。

4.根据权利要求3所述的一种物体三维形貌测量方法，其特征在于，通过旋转反射镜使所述阴影图案的条纹发生相移，还包括：

通过电控旋转台控制反射镜旋转，并使所述阴影图案的条纹发生相移。

5.根据权利要求1所述的一种物体三维形貌测量方法，其特征在于，所述预设图案为散斑图案、正弦条纹图案、周期性栅栏图案的一种或几种。

6.一种物体三维形貌测量系统，其特征在于，所述物体三维形貌测量系统包括：存储器及处理器，所述存储器中包括一种物体三维形貌测量方法程序，所述物体三维形貌测量方法程序被所述处理器执行时实现如下步骤：

接收外界阳光，并将其作为测量用的光源；

将所述阳光照射在具有预设图案的模板上，以形成对应的阴影图案；

将所述阴影图案投影在被测物体上；

拍摄被所述阴影图案投影的被测物体，以得到对应的变形图案；

采用相移法计算得出所述变形图案上变形条纹的相位；

结合所述被测物体的纹理和计算得出的相位进行双目匹配，以获取所述被测物体的三维形貌。

7.根据权利要求6所述的一种物体三维形貌测量系统，其特征在于，将所述阳光照射在具有预设图案的模板上，还包括：

通过至少一个反射镜改变外界阳光的照射路线，并使改变后的阳光照射在具有预设图案的模板上。

8.根据权利要求7所述的一种物体三维形貌测量系统，其特征在于，采用相移法计算得出所述变形图案上变形条纹的相位，还包括：

通过旋转反射镜使所述阴影图案的条纹发生相移；

采用傅里叶变换轮廓术求出每幅相移条纹的相位，再对相邻两幅相位作差，计算得出相移量；

根据计算得出的相移量，采用最小二乘法计算得出变形条纹的相位。

9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中包括一种物体三维形貌测量方法程序，所述物体三维形貌测量方法程序被处理器执行时，实现如权利要求1至5中任一项所述的一种物体三维形貌测量方法的步骤。