[发明专利]非易失性存储器的利用基于损耗的攻击检测的损耗均衡

说明书

本发明题为“非易失性存储器的利用基于损耗的攻击检测的损耗均衡”。本发明公开了用于对非易失性存储器进行损耗均衡的设备、系统和方法。设备可以包括控制器和一个或多个非易失性存储器元件。控制器可以通过周期性地更新逻辑至物理映射并基于所更新的映射移动数据来执行一个或多个非易失性存储器元件的损耗均衡过程。控制器可以检测一个或多个非易失性存储器元件的基于损耗的攻击。控制器可以响应于检测到基于损耗的攻击而改变损耗均衡过程。

技术领域

在各种实施方案中，本公开涉及非易失性存储器，并且更具体地讲，涉及用于非易失性存储器的损耗均衡。

背景技术

非易失性存储器介质的各种性质可能受到过度损耗的负面影响。频繁读取物理存储器区域可能干扰该区域中或相邻区域中的存储的数据。频繁写入物理区域可能损耗该区域，从而减小存储器装置或元件的使用寿命或容量，或者可能干扰存储在相邻区域中的数据。用于避免此类干扰的耗损均衡可能包括随时间推移改变存储器介质的逻辑地址与物理地址之间的映射，使得由单个逻辑地址处重复读取或写入而引起的损耗或干扰分布在多个物理位置之上。然而，某些重复数据访问模式可能与逻辑至物理映射改变的模式一致，从而尽管有损耗均衡仍导致对单个物理位置的过度读取或写入。

发明内容

提供了用于非易失性存储器的损耗均衡的设备。在一个实施方案中，设备包括控制器和一个或多个非易失性存储器元件。在某个实施方案中，控制器被配置成通过周期性地更新逻辑至物理映射并基于所更新的映射移动数据来执行一个或多个非易失性存储器元件的损耗均衡过程。在另一实施方案中，控制器被配置成检测一个或多个非易失性存储器元件的基于损耗的攻击。在某些实施方案中，控制器被配置成响应于检测到基于损耗的攻击而改变损耗均衡过程。

提供了用于非易失性存储器的损耗均衡的方法。在一个实施方案中，方法包括通过周期性地改变逻辑至物理映射并基于所改变的映射移动数据来执行一个或多个非易失性存储器元件的损耗均衡过程。在某个实施方案中，方法包括确定一个或多个非易失性存储器元件的访问计数是否违反阈值。在另一实施方案中，方法包括响应于确定了访问计数违反阈值，通过更新存储的参数值来修改耗损均衡参数。

在另一个实施方案中，设备包括用于通过根据一个或多个耗损均衡参数的集和逻辑至物理映射序列周期性地更新逻辑至物理映射，以及基于所更新的映射移动数据来对一个或多个非易失性存储器元件进行耗损均衡的装置。在某个实施方案中，设备包括用于检测一个或多个非易失性存储器元件的基于损耗的攻击的装置。在另一实施方案中，设备包括用于响应于检测到基于损耗的攻击而改变逻辑至物理映射序列的装置。

提供了用于非易失性存储器的损耗均衡的系统。在一个实施方案中，系统包括装置控制器和存储装置的多个物理存储位置。在某个实施方案中，装置控制器被配置成检测多个物理存储位置的基于损耗的攻击。在另一实施方案中，装置控制器被配置成响应于检测到基于损耗的攻击而改变一个或多个损耗均衡参数的集。在一个实施方案中，装置控制器被配置成使用一个或多个损耗均衡参数的改变的集来执行损耗均衡过程。

附图说明

下面参考附图中示出的具体实施方案包括了更具体的描述。应当理解，这些附图仅描绘了本公开的某些实施方案，因此不应被认为是对其范围的限制，通过使用附图，以附加的特异性和细节描述和解释了本公开，在附图中：

图1是示出包括非易失性存储器元件的系统的一个实施方案的示意性框图；

图2是示出非易失性存储器元件的一个实施方案的示意性框图；

图3是示出逻辑至物理映射的一个实施方案的示意性框图；

图4是示出各种实施方案中的逻辑至物理映射序列的示意性框图；

图5是示出逻辑至物理映射序列之间的改变的一个实施方案的示意性框图；

图6是示出逻辑至物理映射序列之间的改变的另一个实施方案的示意性框图；