[发明专利]电缆截面结构的测算方法、系统、设备及可读存储介质

权利要求书

1.一种电缆截面结构的测算方法，其特征在于，包括：

获取电缆截面的图像；

对所述图像进行二值化处理，得到对应的灰度图；

根据所述灰度图的像素点确定所述电缆截面对应的计算截面参数，所述计算截面参数包括绝缘层厚度、屏蔽层厚度和/或绝缘层偏心度；

利用图像转换系数，将所述计算截面参数转换为所述电缆截面的实际截面参数。

2.根据权利要求1所述测算方法，其特征在于，所述图像转换系数，具体通过对所述电缆截面进行激光测距得到。

3.根据权利要求2所述测算方法，其特征在于，所述获取电缆截面的图像的过程，具体包括：

以正面垂直的角度，获取电缆截面的图像。

4.一种电缆截面结构的测算系统，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取电缆截面的图像；

预处理模块，用于对所述图像进行二值化处理，得到对应的灰度图；

计算模块，用于根据所述灰度图的像素点确定所述电缆截面对应的计算截面参数，所述计算截面参数包括绝缘层厚度、屏蔽层厚度和/或绝缘层偏心度；

转换模块，用于利用图像转换系数，将所述计算截面参数转换为所述电缆截面的实际截面参数。

5.一种电缆截面结构的测算设备，其特征在于，包括：

图像获取装置；

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序时实现以下步骤：

通过所述图像获取装置获取电缆截面的图像；

对所述图像进行二值化处理，得到对应的灰度图；

根据所述灰度图的像素点确定所述电缆截面对应的计算截面参数，所述计算截面参数包括绝缘层厚度、屏蔽层厚度和/或绝缘层偏心度；

利用图像转换系数，将所述计算截面参数转换为所述电缆截面的实际截面参数。

6.根据权利要求5所述测算设备，其特征在于，还包括激光测距装置；

所述激光测距装置对所述电缆截面进行激光测距得到测距结果；

所述处理器利用所述测距结果得到图像转换系数。

7.根据权利要求6所述测算设备，其特征在于，还包括云台；

所述处理器根据所述电缆截面的图像发出云台控制信息；

所述云台根据所述云台控制信息动作，以使所述图像获取装置以正面垂直的角度获取所述电缆截面的图像。

8.根据权利要求5至7任一项所述测算设备，其特征在于，还包括固定装置，用于固定所述电缆截面对应的电缆主体。

9.一种可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

通过所述图像获取装置获取电缆截面的图像；

对所述图像进行二值化处理，得到对应的灰度图；

根据所述灰度图的像素点确定所述电缆截面对应的计算截面参数，所述计算截面参数包括绝缘层厚度、屏蔽层厚度和/或绝缘层偏心度；

利用图像转换系数，将所述计算截面参数转换为所述电缆截面的实际截面参数。