[发明专利]一种快速检测光学膜层节瘤缺陷的装置及方法有效
| 申请号: | 201910529654.6 | 申请日: | 2019-06-19 |
| 公开(公告)号: | CN110132993B | 公开(公告)日: | 2022-04-01 |
| 发明(设计)人: | 刘红婕;王方;朱启华;郑天然;周丽丹;胡东霞;袁强;袁晓东 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
| 主分类号: | G01N21/896 | 分类号: | G01N21/896;G01N21/89 |
| 代理公司: | 绵阳市博图知识产权代理事务所(普通合伙) 51235 | 代理人: | 杨晖琼 |
| 地址: | 621000*** | 国省代码: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 快速 检测 光学 膜层节瘤 缺陷 装置 方法 | ||
1.一种快速检测光学膜层节瘤缺陷的装置,其特征在于:包括
用于竖直放置样品的样品台;
与所述样品台连接的用于调整样品位置的三维电动移动平台;
用于图像采集并成像的成像采集单元;
及用于控制所述三维电动移动平台和成像采集单元的控制分析单元;
其中,所述成像采集单元包括一个光源模块和两个成像模块,所述光源模块包括激光器、扩束系统和半透半反反射镜,所述两个成像模块分别是普通显微成像模块和相位成像模块,所述普通显微成像模块包括依次排列的成像物镜、适配器和普通成像相机,所述相位成像模块包括依次排列的成像物镜、适配器和相位成像相机;
所述装置根据四波横向剪切干涉的原理,采用相位成像相机通过面成像技术实现节瘤缺陷的探测。
2.根据权利要求1所述的快速检测光学膜层节瘤缺陷的装置,其特征在于:所述激光器为405nm二极管激光器。
3.采用权利要求1所述的装置进行光学膜层节瘤缺陷检测的方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)在样品待测面做标记点;
(2)安装样品,固定样品台,开启光源模块和普通成像模块,微调样品台,使得样品在整个大口径范围内都能够清晰成像;
(3)开启相位成像模块,设置样品台运动方向,与成像采集单元垂直的方向为Z方向,与Z方向垂直的方向为XY方向,调节样品台沿XY方向移动,对不同位置连续成像,由控制分析单元获取图像并对图像进行拼接与处理,获取光学膜层节瘤缺陷。
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