[发明专利]一种用于真空镀膜腔体内配件分离沉积膜层的方法在审
| 申请号: | 201910529605.2 | 申请日: | 2019-06-19 |
| 公开(公告)号: | CN110318038A | 公开(公告)日: | 2019-10-11 |
| 发明(设计)人: | 皇韶峰;朱豪杰 | 申请(专利权)人: | 江苏华恒新能源有限公司 |
| 主分类号: | C23C16/34 | 分类号: | C23C16/34;C23C16/44;C23C16/50 |
| 代理公司: | 南京众联专利代理有限公司 32206 | 代理人: | 杜静静 |
| 地址: | 221000 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 沉积膜层 真空镀膜腔 配件 体内 氮气 真空镀膜设备 降温过程 快速分离 温度骤降 温控系统 液氮冷却 腔体 | ||
1.一种用于真空镀膜腔体内配件分离沉积膜层的方法,其特征在于,所述方法如下,将腔体温度升高到400℃-450℃后,在将液氮冷却物通入,直到温度骤降到50℃后停止通入,降温过程限制在1min内,通过温控系统控制氮气通入与关闭。
2.采用权利要求1所述方法在PECVD设备腔体内部氮化硅沉积膜层的去除方法,其特征在于,所述方法如下:
步骤一:利用载板传送硅片并在上面镀膜,工艺气体NH3和SiH4通过出口和进入等离子发生器等系列设备,在真空、高温环境中将参与反应的工艺气体NH3和SiH4分解为离子状态,形成高密度等离子区,然后在永磁体的作用下沉积到达硅片表面;同时,在腔体内部沉积氮化硅膜层;
步骤二:可在设备腔体内部使用电弧喷涂的方式喷上一层涂层,
步骤三:然后在正常工艺生产时的控制温度450℃左右环境下,在设备维护清理前将工艺结束,直接开启液氮冷却系统,将温度从450℃直接降低到50℃,降温时间控制在一分钟左右,
步骤四:这时温控系统就会自动停止液氮通入,液氮流量0.05-0.15 slpm,同时打开真空泵。
3.根据权利要求2所述的用于真空镀膜腔体内配件分离沉积膜层的方法,其特征在于,所述步骤二具体如下:可在设备腔体内部使用电弧喷涂的方式喷上一层涂层,厚度在300μm~500μm之间,材料选用BA717无机耐热聚釉陶瓷防腐防氧化漆,利用涂层保证在多次升温降温过程中腔体材料不会发生变化,保证设备后续运行中的密封性和工艺稳定性。
4.采用权利要求1所述方法在可拆卸配件氮化硅沉积膜层的去除方法:其特征在于,先将需要清理的配件按照正确的操作依次拆下,将拆下的配件放入特制的马弗炉中进行加热降温,待工艺程序执行完将配件取出,最后按照拆卸顺序装上即可,马弗炉设备的工艺条件为: 先自动加热20min,温度设定为400℃,然后加热过程停止,进行冷却降温过程,降温过程使用液氮吹扫炉体10min,液氮流量控制在0.05-0.15 slpm,同时热排打开,液氮停止后等待5min,待内部压力平衡温度稳定后自动开启马弗炉炉门,工艺结束。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江苏华恒新能源有限公司,未经江苏华恒新能源有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910529605.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:透光性SiC的制造方法
- 下一篇:切削工具及其制造方法
- 同类专利
- 专利分类
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的





