[发明专利]电力电子装置在审
申请号: | 201910515179.7 | 申请日: | 2019-06-14 |
公开(公告)号: | CN110610935A | 公开(公告)日: | 2019-12-24 |
发明(设计)人: | F.D.普菲尔施;T.巴斯勒 | 申请(专利权)人: | 英飞凌科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/06 | 分类号: | H01L27/06;H01L29/74 |
代理公司: | 72001 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 刘书航;申屠伟进 |
地址: | 德国瑙伊比*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 反向电流 传导 电力电子装置 半导体开关 反向导通 正向导通状态 反向模式 正向电流 二极管结构 承载能力 稳态电流 反并联 标称 地电 | ||
1.一种电力电子装置(1),被配置用于在所述电力电子装置(1)的正向模式下传导正向电流(I1)并且用于在所述电力电子装置(1)的反向模式下传导反向电流(I2),所述电力电子装置(1)包括:
- 半导体开关结构(2),其被配置用于承担正向导通状态,其中在正向导通状态下所述半导体开关结构(2)的稳态电流承载能力被表征为标称电流(Inom),并且其中在正向导通状态下所述半导体开关结构(2)被配置用于在所述电力电子装置(1)的正向电流模式下传导正向电流(I1)的至少一部分;
- 二极管结构(3),其被反并联地电连接于所述半导体开关结构(2)并且被配置用于在所述电力电子装置(1)的反向模式下传导反向电流(I2)的至少一部分;以及
- 反向导通结构(4),其与所述半导体开关结构(2)单片地集成;
其中,在所述电力电子装置(1)的反向模式下,如果反向电流(I2)的量小于或者等于第一临界反向电流值(IRC1),则所述反向导通结构(4)传导少于10%的反向电流(I2),所述第一临界反向电流值(IRC1)至少接近于标称电流(Inom),以及
其中如果反向电流(I2)的量大于或者等于第二临界反向电流值(IRC2),则所述反向导通结构(4)传导至少20%的反向电流(I2),所述第二临界反向电流值(IRC2)接近于至多十倍的标称电流(Inom)。
2.如权利要求1所述的电力电子装置(1),其中第一临界反向电流值(IRC1)接近于至少两倍的标称电流(Inom)。
3.如前述权利要求中的一个所述的电力电子装置(1),其中反向导通结构(4)包括被反并联地电连接于半导体开关结构(2)的晶闸管结构(40)。
4.如权利要求3所述的电力电子设备(1),其中晶闸管结构(40)的正向转折电压(Vfwbr)低于二极管结构(3)在临界二极管电流值(Id0)下的二极管导通状态电压(Vd0),其中所述临界二极管电流值(Id0)接近于至多五倍的标称电流(Inom)。
5.如前述权利要求中的一个所述的电力电子装置(1),其中半导体开关结构(2)是IGBT(20)或者包括IGBT(20)。
6.如权利要求5以及权利要求3和权利要求4中的一个所述的电力电子装置(1),其中半导体开关结构(2)以及晶闸管结构(40)被单片地集成在功率半导体器件(5)中,所述功率半导体器件(5)包括:
- 半导体本体(10),其具有耦合到第一负载端子结构(11)的前侧(10-1)和耦合到第二负载端子结构(12)的背侧(10-2)并且被配置用于传导在第一负载端子结构(11)和第二负载端子结构(12)之间的正向电流(I1)的至少一部分,以及
- 多个IGBT控制单元(14),其被布置在所述前侧(10-1),与所述第一负载端子结构(11)相接触并且被至少部分地包括在所述半导体本体(10)中;
其中所述半导体本体(10)包括:
- 第一导电类型的漂移区(100),其被布置成与所述IGBT控制单元(14)相接触;
- 与第一导电类型互补的第二导电类型的背侧发射极区(102),所述背侧发射极区(102)被布置在所述背侧(10-2)处,与所述第二负载端子结构(12)相接触;以及
- 第一导电类型的至少一个晶闸管发射极区(106),被布置在所述背侧(10-2)处,与所述第二负载端子结构(12)相接触并且通过第二导电类型的半导体区与漂移区(100)隔离。
7.如权利要求6所述的电力电子装置,其中晶闸管发射极区(106)的横向延伸(Lx)限定半导体器件(5)的晶闸管区,并且其中IGBT控制单元(14)中的一个或多个被布置在所述晶闸管区内部。
8.如权利要求6或者权利要求7所述的电力电子装置(1),其中晶闸管发射极区(106)的横向延伸(Lx)等于或者小于半导体本体(10)的竖向延伸(Lz)的两倍。
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