[发明专利]一种硅钢片测量的定位平台及方法有效

专利信息
申请号: 201910512688.4 申请日: 2019-06-13
公开(公告)号: CN110132141B 公开(公告)日: 2021-07-23
发明(设计)人: 顾岳飞;郭元超 申请(专利权)人: 上海电气集团股份有限公司
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02;G01B11/06;G01B11/24;G01B5/00
代理公司: 上海申新律师事务所 31272 代理人: 俞涤炯
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 硅钢片 测量 定位 平台 方法
【权利要求书】:

1.一种硅钢片测量的定位平台,其特征在于,包括:

工作平台,用于承载所述硅钢片;

丝杆驱动机构,设于所述工作平台下方,用于推动所述硅钢片移动;

限位机构,设于所述工作平台边沿,用于对所述硅钢片形成限位;

其中,所述丝杆驱动机构包括,

丝杆,

伺服电机,用于驱动所述丝杆转动,

滑块,所述滑块套设于所述丝杆上,且所述滑块在所述丝杆上移动;

所述限位机构包括:

第一限位机构,用于对所述硅钢片的纵向移动形成限位;

第二限位机构,用于对所述硅钢片的横向移动形成限位,且所述第二限位机构还包括直线滑台模组,所述第二限位机构的限位支架与所述直线滑台模组连接,且所述第二限位机构的限位支架在所述直线滑台模组上滑动。

2.根据权利要求1所述的一种硅钢片测量的定位平台,其特征在于,还包括:机械臂,设于所述工作平台一侧,用于抓取并旋转所述硅钢片。

3.根据权利要求1所述的一种硅钢片测量的定位平台,其特征在于,所述丝杆驱动机构还包括:

推杆,固定设于所述滑块上;

推行块,固定设于所述推杆两端;

所述工作平台设有通槽,所述推行块穿过所述通槽且高于所述所述工作平台,所述推行块用于推动所述硅钢片移动。

4.根据权利要求1所述的一种硅钢片测量的定位平台,其特征在于,所述丝杆驱动机构上设有位移传感器,用于测量所述硅钢片的移动距离;

所述限位机构上设有定位传感器,用于定位所述硅钢片。

5.根据权利要求1所述的一种硅钢片测量的定位平台,其特征在于,所述限位机构包括:

限位支架,与所述工作平台连接;

限位块,设于所述限位支架两端。

6.根据权利要求1所述的一种硅钢片测量的定位平台,其特征在于,所述丝杆驱动机构包括横向丝杆驱动机构与纵向丝杆驱动机构,

且所述横向丝杆驱动机构与所述纵向丝杆驱动机构相互垂直设置。

7.一种硅钢片测量的定位方法,其特征在于,包括:

步骤S1:启动丝杆驱动机构推动承载于工作平台上的所述硅钢片纵向移动,至所述硅钢片接抵到第一限位机构后停止,测量并记录纵向移动距离D1;

步骤S2:启动丝杆驱动机构推动所述硅钢片横向移动,至所述硅钢片接抵到第二限位机构后停止,测量并记录横向移动距离D2;

步骤S3:测量所述硅钢片与所述第二限位机构相接抵的第一边的所需参数,包括所述第一边的第一边长K1;

步骤S4:根据所述纵向移动距离D1与横向移动距离D2,分别计算所述硅钢片的纵向方向长度L1与横向方向长度L2;

步骤S5:顺时针或逆时针旋转所述硅钢片90°;

步骤S6:测量所述硅钢片的第二边的所需参数,包括所述第二边的第二边长K2;

步骤S7:顺时针或逆时针旋转所述硅钢片90°;

步骤S8:测量所述硅钢片的第三边的所需参数,包括所述第三边的第三边长K3。

8.根据权利要求7所述的一种硅钢片测量的定位方法,其特征在于,

所述步骤S4:根据所述纵向移动距离D1与横向移动距离D2,分别计算所述硅钢片的纵向方向长度L1与横向方向长度L2;

根据所述纵向方向长度L1、所述横向方向长度L2、所述第一边的第一边长K1,计算所述硅钢片的中心位置;

所述步骤S5:利用机械臂抓取所述硅钢片的中心位置,并使所述硅钢片沿中心位置顺时针或逆时针旋转90°后,放置于所述工作平台上;

所述步骤S6:测量所述硅钢片的第二边的所需参数,包括所述第二边的第二边长K2;

所述步骤S7:利用机械臂抓取所述硅钢片的中心位置,并使所述硅钢片沿中心位置顺时针或逆时针旋转90°后,放置于所述工作平台上;

所述步骤S8:测量所述硅钢片的第三边的所需参数,包括所述第三边的第三边长K3。

9.根据权利要求7所述的一种硅钢片测量的定位方法,其特征在于,所述步骤S3还包括,调节所述第二限位机构的位置,使所述第二限位机构远离或靠近所述硅钢片,用于使测量装置通过。

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