[发明专利]一种立式轨道板外型检测装置及方法在审
申请号: | 201910511434.0 | 申请日: | 2019-06-13 |
公开(公告)号: | CN110220459A | 公开(公告)日: | 2019-09-10 |
发明(设计)人: | 王朝林;张正宁;张旭飞;史立;毕胜;程俊红;徐忠勇;屈鹏飞;隋斌 | 申请(专利权)人: | 中铁三局集团有限公司;山西高行液压股份有限公司;中铁三局集团桥隧工程有限公司 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02;G01B11/24;G01B11/06;G01C15/00 |
代理公司: | 太原晋科知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 14110 | 代理人: | 任林芳 |
地址: | 030001 *** | 国省代码: | 山西;14 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 轨道板 检测装置 立式轨道 板外型 检测 自动化 辅助调整装置 混凝土预制品 检测技术领域 调整装置 光学扫描 规格模具 兼容问题 检测结果 检测设备 快速检测 人工参与 装卡 测量 输出 | ||
1.一种立式轨道板外型检测装置,其特征是:包括立式基座(102),所述立式基座匹配有可移动轮廓扫描装置,所述轮廓扫描装置匹配有位移感应装置。
2.根据权利要求1所述的一种立式轨道板外型检测装置,其特征是:所述位移感应装置包括升降磁栅传感器磁条(103)和水平磁栅传感器磁条(115),所述磁条各自匹配有磁栅读数头。
3.根据权利要求2所述的一种立式轨道板外型检测装置,其特征是:所述轮廓扫描装置为激光测头,所述激光测头包括横向激光测头和纵向激光测头,所述激光测头各自匹配有磁栅读数头。
4.根据权利要求2或3所述的一种立式轨道板外型检测装置,其特征是:所述升降磁栅传感器磁条底部对应设置有基准块。
5.根据权利要求2或3所述的一种立式轨道板外型检测装置,其特征是:所述升降磁栅传感器磁条以所述立式基座中心线对称分布,且相邻磁条间隔距离相等。
6.根据权利要求3所述的一种立式轨道板外型检测装置,其特征是:所述激光测头、磁栅读数头、水平磁栅传感器磁条均设置于水平主梁(107)上,所述水平主梁匹配有竖直升降装置。
7.根据权利要求6所述的一种立式轨道板外型检测装置,其特征是:所述横向激光测头包括横向左激光测头和横向右激光测头,其中一测头行程终点与另一测头行程起点重合,两测头各自匹配横向的线性模组。
8.根据权利要求6所述的一种立式轨道板外型检测装置,其特征是:所述水平主梁设置有横向的直线模组(114),每个直线模组均设置有一个纵向激光测头。
9.根据权利要求1、2、3、6、7中任意一项所述的一种立式轨道板外型检测装置,其特征是:包括轨道板调整装置和轨道板辅助调整装置,所述轨道板调整装置包括横向滑轨和横向滑动座、设置于所述横向滑动座上的纵向滑轨和纵向滑动座,所述轨道板调整装置数量为两个,于立式基座工作面一侧相对设置,所述轨道板辅助调整装置设置于两轨道板调整装置之间,所述纵向滑动座面向所述中心线方向设置有轨道板夹持口,所述轨道板夹持口设置有夹持油缸。
10.根据权利要求9所述的一种立式轨道板外型检测装置,其特征是:所述轨道板辅助调整装置包括滑动滚轴(304),所述滑动滚轴设置于位移滑轨(302)上,所述滑动滚轴轴线、位移滑轨与所述纵向滑轨方向相同。
11.一种立式轨道板外型检测方法,其特征是:利用所述的轨道板外型检测装置,轨道板竖直吊装入轨道板夹持口内固定,轨道板承轨台面与立式基座相对,开始检测,步骤如下:
Ⅰ、水平主梁(107)至最低位,纵向激光测头扫描基准块,进行软件校准或硬件超偏差检测,通过直线模组调整纵向激光测头,使纵向激光测头扫描面幅宽覆盖轨道板承轨台预埋螺旋套管孔中心位垂线;
Ⅱ、水平主梁匀速上升,纵向激光测头持续扫描,得到对应轨道板承轨台断面外轮廓数据,同时对应的磁栅读数头通过升降磁栅传感器磁条得到竖直方向的位移数据,两数据结合得到纵向外型尺寸数据;
Ⅲ、完成步骤Ⅱ的水平主梁位于上位,将水平主梁下降至轨道板上排承轨台中段;
Ⅳ、横向左激光测头和横向右激光测头同步工作,分别通过各自的线性模组横向移动,对轨道板上排承轨台中段进行横向外轮廓扫描,得到两组外轮廓数据,横向左、右激光测头匹配的磁栅读数头通过对应的水平磁栅传感器磁条,产生两组水平方向的位移数据,四组数据相结合得到一个横向外型尺寸数据,检测完毕后,横向左、右激光测头与其匹配的磁栅读数头通过各自线性模组退回初始位;
Ⅴ、将水平主梁下降至轨道板下排承轨台中段;
Ⅵ、以步骤Ⅳ相同方法,得到轨道板另一横向外型尺寸数据;
Ⅶ、水平主梁下降至最低位,完成检测;
完成检测后,将轨道板调离检测工位。
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