[发明专利]存储器单元及其形成方法在审
| 申请号: | 201910510900.3 | 申请日: | 2019-06-13 |
| 公开(公告)号: | CN112086556A | 公开(公告)日: | 2020-12-15 |
| 发明(设计)人: | 林大钧;蔡滨祥;洪雅娟;杨晋嘉;简廷安 | 申请(专利权)人: | 联华电子股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L45/00 | 分类号: | H01L45/00;H01L27/24 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 陈小雯 |
| 地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 存储器 单元 及其 形成 方法 | ||
1.一种存储器单元,其特征在于,包含:
第一导电线,设置于基底上;
底电极,设置于该第一导电线上;
纳米碳管层,设置于该底电极上;
中间电极,设置于该纳米碳管层上,因而该底电极、该纳米碳管层以及该中间电极构成纳米管存储器部分;
电阻层,设置于该中间电极上;
顶电极,设置于该电阻层上,因而该中间电极、该电阻层以及该顶电极构成电阻存储器部分;以及
第二导电线,设置于该顶电极上。
2.如权利要求1所述的存储器单元,其中该第一导电线以及该第二导电线包含金属导线。
3.如权利要求1所述的存储器单元,其中该底电极、该中间电极以及该顶电极包含氮化钛。
4.如权利要求1所述的存储器单元,其中该第一导电线、该底电极、该纳米碳管层、该中间电极、该电阻层、该顶电极以及该第二导电线堆叠设置。
5.如权利要求1所述的存储器单元,其中该纳米碳管层包含堆叠的材料层。
6.如权利要求1所述的存储器单元,其中该电阻层包含堆叠的电阻层。
7.如权利要求6所述的存储器单元,其中该电阻层包含由下而上堆叠的氧化钽(TaOx)层以及五氧化二钽(Ta2O5)层。
8.如权利要求1所述的存储器单元,还包含:
第一介电层,设置于该基底上,以及该第一导电线设置于该第一介电层中,其中该第一导电线电连接该底电极。
9.如权利要求8所述的存储器单元,还包含:
盖层,顺应覆盖于该第一介电层上以及该底电极、该纳米碳管层、该中间电极、该电阻层以及该顶电极的侧壁。
10.如权利要求8所述的存储器单元,还包含:
第二介电层,设置于该第一介电层上,且该底电极、该纳米碳管层、该中间电极、该电阻层、该顶电极以及该第二导电线都位于该第二介电层中。
11.一种形成存储器单元的方法,包含:
形成第一导电线于基底上;
依序由下而上形成底电极层、毯覆式纳米碳管层、中间电极层、毯覆式电阻层以及顶电极层于该第一导电线上;以及
图案化该顶电极层、该毯覆式电阻层、该中间电极层、该毯覆式纳米碳管层以及该底电极层,以形成由下而上堆叠的底电极、纳米碳管层、中间电极、电阻层以及顶电极,因而该底电极、该纳米碳管层以及该中间电极构成纳米管存储器部分,以及该中间电极、该电阻层以及该顶电极构成电阻存储器部分。
12.如权利要求11所述的形成存储器单元的方法,还包含:
形成第一介电层于该基底上,其中该第一介电层具有凹槽;以及
形成该第一导电线于该凹槽中。
13.如权利要求12所述的形成存储器单元的方法,在形成由下而上堆叠的该底电极、该纳米碳管层、该中间电极、该电阻层以及该顶电极之后,还包含:
形成盖层顺应覆盖于该第一介电层上以及该底电极、该纳米碳管层、该中间电极、该电阻层以及该顶电极的侧壁。
14.如权利要求12所述的形成存储器单元的方法,在形成由下而上堆叠的该底电极、该纳米碳管层、该中间电极、该电阻层以及该顶电极之后,还包含:
沉积第二介电层全面覆盖该第一介电层,该底电极、该纳米碳管层、该中间电极、该电阻层以及该顶电极。
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