[发明专利]化工装置控制回路性能定量评估方法、机器可读存储介质

权利要求书

1.一种化工装置控制回路性能定量评估方法，其特征在于，该方法包括：

采集各控制回路的历史数据参数；

根据统计时间段内采集到的历史数据参数计算各控制回路的：自控率、准确率、稳定率和/或响应率；

根据计算得到的所述自控率、所述准确率、所述稳定率和/或所述响应率确定控制回路的性能评估结果；

其中，所述历史数据参数包括：控制回路的测量值、设定值和模式值数量。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据统计时间段内采集到的历史数据参数计算各控制回路自控率包括根据以下公式计算所述自控率：

其中，Ao_pro表示某一控制回路的投自控率，A_pro表示所有控制回路的投自控率，m表示某个控制回路统计时间段内模式值为自动模式的个数，n表示某一控制回路统计时间段内采集数据的个数，z表示所有控制回路的个数。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据统计时间段内采集到的历史数据参数计算各控制回路的准确率包括根据以下公式计算所述准确率：

其中，So_Index表示某一控制回路的准确率，S_Index表示所有控制回路的准确率，PV(i)表示控制回路的某一时刻的测量值，SP(i)表示控制回路的某一时刻的设定值，n表示某一控制回路统计时间段内采集数据的个数。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据统计时间段内采集到的历史数据参数计算各控制回路的稳定率包括根据以下公式计算所述稳定率：

其中，Po_Index表示某一控制回路的稳定率，P_Index表示所有控制回路的稳定率，PV(i)表示控制回路的某一时刻的测量值，SP(i)表示控制回路的某一时刻的设定值，n表示某一控制回路统计时间段内采集数据的个数。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据统计时间段内采集到的历史数据参数计算各控制回路的响应率包括根据以下公式计算所述响应率：

其中，Fo_Index表示某一控制回路的响应率，F_Index表示所有控制回路的响应率，PV₅(i)表示某一时刻控制回路的前五个周期的测量值平均值，SP₅(i)表示某一时刻控制回路的前五个周期的设定值平均值，n表示某一控制回路统计时间段内采集数据的个数。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据计算得到的所述自控率、所述准确率、所述稳定率和所述响应率计算控制回路的性能评估结果包括根据以下计算公式计算所述性能评估结果：

Propertyo＝Ao_pro*(Po_Index+So_Index+Fo_Index)/3

Property＝A_pro*(P_Index+S_Index+F_Index)/3

其中，Propertyo表示某个控制回路性能评估结果，Property表示装置整体的控制回路性能评估结果，Ao_pro表示某一控制回路的投自控率，A_pro表示所有控制回路的投自控率，So_Index表示某一控制回路的准确率，S_Index表示所有控制回路的准确率，Po_Index表示某一控制回路的稳定率，P_Index表示所有控制回路的稳定率，Fo_Index表示某一控制回路的响应率，F_Index表示所有控制回路的响应率。

7.一种机器可读存储介质，该机器可读存储介质上存储有指令，该指令用于使得机器执行权利要求1-6任一项权利要求所述的化工装置控制回路性能定量评估。