[发明专利]一种增材制造过程多传感离轴监测系统在审
申请号: | 201910503158.3 | 申请日: | 2019-06-12 |
公开(公告)号: | CN110174408A | 公开(公告)日: | 2019-08-27 |
发明(设计)人: | 孔令豹;彭星 | 申请(专利权)人: | 复旦大学 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88;G01B11/00 |
代理公司: | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人: | 陆飞;陆尤 |
地址: | 200433 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 制造过程 离轴 红外成像模块 可见光成像 分光模块 监测系统 偏振成像 传感 偏振 偏振光 孔洞 信号集成模块 高分辨率CCD 红外探测器 可见光镜头 可见光 保护模块 表面状态 参数修正 成型缺陷 成形零件 多传感器 分析模块 高分辨率 红外镜头 监测手段 精确监测 融合成像 数据融合 系统利用 工件台 球化 镜头 监测 制造 | ||
1.一种增材制造过程多传感离轴监测系统,其特征在于,包括窗口保护模块(10)、第一分光模块(20)、第二分光模块(30)、红外成像模块(40)、可见光成像模块(50)、偏振成像模块(60)、信号集成模块(70)和数据融合与分析模块(80);其中,所述红外成像模块(40)包括红外镜头(41)和红外探测器(42);所述可见光成像模块(50)包括高分辨率可见光镜头(51)和高分辨率CCD(52);所述偏振成像模块(60)包括偏振镜头(61)和偏振CCD(62);所述红外镜头(41)连接红外探测器(42),所述高分辨率可见光镜头(51)连接高分辨率CCD(52),所述偏振镜头(61)连接偏振CCD(62),所述信号集成模块(70)的一端分别连接红外探测器(42)、高分辨率CCD(52)和偏振CCD(62),所述信号集成模块(70)的另一端连接数据融合与分析模块(80)。
2.根据权利要求1所述的增材制造过程多传感离轴监测系统,其特征在于,经第一分光模块(20)透射的光线进入偏振成像模块(60),经第一分光模块(20)反射的光线进入第二分光模块(30);所述第二经分光模块(30)透射的光线进入可见光成像模块(50),经第二分光模块(30)反射的光线进入红外成像模块(40)。
3.根据权利要求2所述的增材制造过程多传感离轴监测系统,其特征在于,所述红外成像模块(40)、可见光成像模块(50)和偏振成像模块(60)分别获取的红外图像数据、可见光图像数据和偏振图像数据经信号集成模块(70)整合进入计算机软件系统,通过数据融合与分析模块(80),实现增材制造表面特征与微观缺陷的数据测量与分析。
4.根据权利要求3所述的增材制造过程多传感离轴监测系统,其特征在于,所述数据融合与分析模块(80)采用Laplace金字塔分解的图像融合算法;金字塔的分解层数为3,高频部区域采用加权平均融合,低频区域采用算数平均方法进行融合;首先完成对图像的高斯金字塔分解,得到拉普拉斯金字塔分解图像;然后对拉普拉斯金字塔的高频系数和低频系数进行选择;最后通过融合后拉普拉斯金字塔,重构融合图像。
5.根据权利要求1-4之一所述的增材制造过程多传感离轴监测系统,其特征在于,所述第一分光模块(20)的光线透射与反射比的范围是3:7—5:5;所述第二分光模块(30)的光线透射与反射比的范围是3:7—5:5。
6. 根据权利要求1-4之一所述的增材制造过程多传感离轴监测系统,其特征在于,所述红外探测器(42)是InGaAs焦平面,芯片规格是9.6mm×7.68mm,分辨率为320×256pixels;所述高分辨率CCD(52)的像元尺寸是1.1um,分辨率为7708×5352 pixels;所述偏振CCD(62)的像元尺寸是3.45um,分辨率为2448×2048 pixels。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于复旦大学,未经复旦大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910503158.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。