[发明专利]一种快速切换温度和压力的测试装置在审

专利信息
申请号: 201910499693.6 申请日: 2019-06-11
公开(公告)号: CN110118909A 公开(公告)日: 2019-08-13
发明(设计)人: 张辽;范兆周;罗清;陈焕军 申请(专利权)人: 北京清大天达光电科技股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01N17/00
代理公司: 北京挺立专利事务所(普通合伙) 11265 代理人: 叶树明
地址: 101200 北京市平谷区马*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 压力容器 保温组件 测试装置 针床组件 隔热层 进气口 温度控制组件 压力控制组件 快速切换 底板 航空插头接口 电子元器件 印刷电路板 测试过程 测试效率 排气口 探针座 温度点 压力点 内腔 探针 外接 针座 安全
【说明书】:

发明公开了一种快速切换温度和压力的测试装置,所述测试装置包括压力容器、隔热层组件、针床组件、温度控制组件、压力控制组件以及保温组件,所述压力容器上开设有进气口、排气口以及航空插头接口,所述压力容器通过进气口外接有温度控制组件和压力控制组件,所述压力容器的内腔安装有隔热层组件,所述针床组件包括探针、探针座、针座底板、印刷电路板,所述针床组件上设有保温组件,所述隔热层组件上设有保温组件,本发明提高电子元器件在多个温度点和压力点的测试效率,而且测试过程安全高效。

技术领域

本发明涉及电子元器件测试领域,尤其是一种快速切换温度和压力的测试装置。

背景技术

目前,电子元器件在进行多种温度和压力的测试时,需要进入不同的恒温室进行加压测试,标的物在不同的恒温室进行温度切换的时间较长,效率低下。为了提高测试效率,这需要一种能够快速切换温度和压力的测试装置,可对标的物测试所需的不同温度和压力进行快速切换,标的物在测试过程中仅需取放一次,极大提高了测试的效率。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是为了克服上述不足之处而提供一种快速切换温度和压力的测试装置,提高电子元器件在多个温度点和压力点的测试效率,而且测试过程安全高效。

一种快速切换温度和压力的测试装置,所述测试装置包括压力容器、隔热层组件、针床组件、温度控制组件、压力控制组件以及保温组件,所述压力容器上开设有进气口、排气口以及航空插头接口,所述压力容器通过进气口外接有温度控制组件和压力控制组件,所述压力容器的内腔安装有隔热层组件,所述针床组件包括探针、探针座、针座底板、印刷电路板,所述针床组件上设有保温组件,所述隔热层组件上设有保温组件。

进一步的,所述压力容器的内腔可根据标的物的外形及测试需要做仿形结构。

进一步的,所述进气口、排气口以及航空插头接口的开口位置包括但不限制在所述压力容器的顶面、底面以及侧面。

进一步的,所述进气口处连接设有气流扩散板。

进一步的,所述探针将标的物测试的电信号传至印刷电路板上,所述印刷电路板通过电子连接器将测试信号传至航空插头。

进一步的,所述保温组件位于标的物的上下两面。

进一步的,所述保温组件包括如下保温方式:(1)通过比热容大的材料作为被动热源/冷源;(2)通过热交换装置作为主动热源/冷源。

本发明与现有技术相比,其优点在于:

(1)本发明通过温度控制组件喷出高/低温气流直接对标的物进行升/降温,而无需对整个压力容器进行升/降温,极大的提高了标的物温度切换的效率;

(2)标的物进行多个温度点和压力点的测试时,测试过程中仅需取放一次,极大提高了测试的效率;

(3)隔热层组件和保温组件实现在测试的过程中标的物温度稳定;

(4)印刷电路板通过电子连接器将测试信号传至航空插头,避免了在探针上焊线,极大减少了接线工作量,同时保证了信号传递的可靠性。

附图说明

图1为本发明的整体结构俯视示意图;

图2为本发明的整体结构剖视图;

其中,10压力容器;20隔热层组件;30针床组件;40温度控制组件;50压力控制组件;60保温组件;11进气口;12排气口;13航空插头接口;31探针;32探针座;33针座底板;34印刷电路板;35航空插头

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步详述。在此需要说明的是,下面所描述的本发明各个实施例中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。

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