[发明专利]多通道单双芯片差分式轮速传感器测试工装及系统与方法有效

专利信息
申请号: 201910493062.3 申请日: 2019-06-06
公开(公告)号: CN110320386B 公开(公告)日: 2021-10-26
发明(设计)人: 田锦明;张军;纪林海;谢春旭;施浩舒;王宇;韩磊;杨阳;秦燕华;王春玲;赵云龙 申请(专利权)人: 淮海工学院
主分类号: G01P21/02 分类号: G01P21/02
代理公司: 连云港润知专利代理事务所 32255 代理人: 刘喜莲
地址: 222000 江苏省连云港市海州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 通道 芯片 分式 传感器 测试 工装 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种多通道单芯片、双芯片差分式轮速传感器测试工装,其特征在于:

该测试工装包括底座,在底座的两侧各安装有一立柱,在立柱之间连接安装有横柱;所述的横柱上安装有若干高导磁率材料制成的铁芯,铁芯的两侧上套装有线圈骨架,线圈骨架上缠绕有导电线圈,所有导电线圈通过串联或并联或串并联组合的方式连接,连接后构成一个输入端用于与外电路连接;

线圈骨架的两侧外端各设有一磁场屏蔽板,磁场屏蔽板通过连杆连接并固定安装于横柱上;在铁芯的两端端面正对的磁场屏蔽板上设有开孔,从开孔的上部向上延伸设有开槽;

立柱或者底座上安装有支架,在支架上安装有传感器固定板,传感器固定板上开设有若干用于待测传感器的安装的传感器安装孔;

所述的支架为横式支架,立柱的两侧各设有一段立式设置的第二滑槽,横式支架通过第二滑槽垂直安装于立柱上,横式支架在第二滑槽中上下移动来调节位置;

在横式支架上设有第三滑槽,传感器固定板通过第三滑槽水平滑动安装在横式支架上,传感器固定板在第三滑槽中水平移动来调节位置;传感器安装孔的数目和铁芯的端面数目相同,且传感器安装孔的位置正对铁芯的端面;

或者,

所述的支架为立式支架,在立柱两侧的底座上各设有一段第一滑槽,立式支架通过第一滑槽垂直安装于立柱两侧的底座上,立式支架在第一滑槽中水平滑动来调节位置,在立式支架的侧面开设有立式的第四滑槽;传感器固定板通过第四滑槽安装在立式支架上,传感器固定板在第四滑槽中上下移动调节位置,传感器安装孔的数目和铁芯的端面数目相同,传感器安装孔的位置正对铁芯的端面。

2.根据权利要求1所述的多通道单芯片、双芯片差分式轮速传感器测试工装,其特征在于:所述的底座采用矩形结构,所述的铁芯的截面采用方形结构。

3.根据权利要求1所述的多通道单芯片、双芯片差分式轮速传感器测试工装,其特征在于:磁场屏蔽板上的开孔形状为方孔,所述的开槽以槽径小于开孔的孔径;磁场屏蔽板上的开孔的宽、高尺寸对应小于铁芯端面的宽、高。

4.根据权利要求1所述的多通道单芯片、双芯片差分式轮速传感器测试工装,其特征在于:所述的磁场屏蔽板采用抗磁性且耐高温材料制成;所述的底座、立柱、横柱、线圈骨架、连杆、支架、传感器固定板均采用耐高温且非导磁性材料制成。

5.一种多通道单芯片、双芯片差分式轮速传感器测试监控系统,其特征在于,该系统包括计算机、可控信号发生器、交流电流源放大器、环境试验箱、程控可调直流稳压电源、信号处理模块、数据采集卡和权利要求1-3任何一项所述的差分轮速传感器测试工装;

所述的计算机通过串口分别连接可控信号发生器、程控可调直流稳压电源和数据采集卡;

所述的可控信号发生器的输出端连接到交流电流源放大器的输入端;

所述的交流电流源放大器的输出端连接到差分轮速传感器测试工装的输入端;

待测传感器安装在差分式轮速传感器工装上的传感器固定板上,待测传感器为多只单芯片差分式轮速传感器或多只双芯片差分式轮速传感器;待测传感器的电源由程控可调直流稳压电源提供;

差分式轮速传感器工装的输入连接交流电流源放大器的输出端;

差分式轮速传感器工装连同其上的待测传感器均置于环境试验箱的箱体内部;

所述的环境试验箱连接计算机,环境试验箱的温度、湿度和其它需要的试验参数通过计算机(1)的串口传输到计算机中,环境试验箱的温度、湿度和其它需要的试验参数由计算机(1)通过串口控制设定;

所述的信号处理模块的输入端连接待测传感器的信号输出,信号处理模块的输出端连接到数据采集卡的模拟输入端;信号处理模块包含若干路信号转换电路,信号处理模块把待测传感器的输出信号转换成多通道差分式轮速传感器标准信号再传送给数据采集卡;数据采集卡具有多通道模拟信号输入端功能的采集卡或示波卡;计算机通过串口控制数据采集卡,把待测传感器经过信号处理模块处理后的多通道差分式轮速传感器标准信号采集传输到计算机中并进行处理;

所述的程控可调直流稳压电源通过串口与计算机(1)连接,计算机根据设定的电压控制程控可调直流稳压电源的输出电压值,为差分式轮速传感器提供供电电压,电压设置范围4V~24V,实现差分式轮速传感器的电压保压、电压进阶试验。

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