[发明专利]自动负载检测电路及自动负载检测方法在审
申请号: | 201910491742.1 | 申请日: | 2019-06-06 |
公开(公告)号: | CN110165743A | 公开(公告)日: | 2019-08-23 |
发明(设计)人: | 吴青龙 | 申请(专利权)人: | 深圳市思远半导体有限公司 |
主分类号: | H02J7/00 | 分类号: | H02J7/00 |
代理公司: | 广东广和律师事务所 44298 | 代理人: | 陈巍巍 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 自动负载检测电路 自动负载 晶体管 电流源 电阻 检测 电平转换电路 逻辑控制模块 充放电电路 电路结构 快速检测 比较器 电路 拓展 应用 | ||
1.一种自动负载检测电路,应用于充放电电路系统,其特征在于,所述自动负载检测电路包括第一电阻、第二电阻、第一电流源、第二电流源、第一晶体管、第二晶体管、第三晶体管、比较器以及逻辑控制模块;
所述第一电阻的第一端、所述第一电流源的输入端、所述第二电流源的输入端、所述第一晶体管的栅极、所述比较器的正输入端均连接至偏置电源电压;
所述第一电阻的第二端分别连接至所述第二晶体管的漏极和所述第三晶体管的栅极;
所述第二电阻的第一端连接至接地,所述第二电阻的第二端连接至所述第三晶体管的漏极;
所述第一电流源的输出端分别连接至所述第一晶体管的源极、所述第三晶体管的源极以及所述比较器的负输入端,并作为负载电压信号输入端;
所述第二电流源的输出端连接至所述第一晶体管的漏极;
所述第二晶体管的栅极连接至所述逻辑控制模块的第二输入端并作为复位信号输入端,所述第二晶体管的源极连接至接地;
所述比较器的输出端连接至所述逻辑控制模块的第一输入端;
所述逻辑控制模块的第三输入端作为负载状态信号输入端;
所述逻辑控制模块的第一输出端作为第一控制信号输出端;
所述逻辑控制模块的第二输出端作为第二控制信号输出端。
2.根据权利要求1所述的自动负载检测电路,其特征在于,所述第一晶体管和所述第二晶体管均为NMOS管,所述第三晶体管为PMOS管。
3.根据权利要求1所述的自动负载检测电路,其特征在于,所述第一电流源和所述第二电流源的电流大小均可调节。
4.根据权利要求1所述的自动负载检测电路,其特征在于,所述逻辑控制模块为数字电路。
5.根据权利要求1所述的自动负载检测电路,其特征在于,所述逻辑控制模块接收所述比较器输出的检测信号、所述复位信号以及所述负载状态信号进行逻辑运算,并根据运算结果产生用于控制负载充电的所述第一控制信号和所述第二控制信号。
6.根据权利要求1所述的自动负载检测电路,其特征在于,所述复位信号为高电平时,所述自动负载检测电路设置为清零复位状态,所述清零复位状态为所述负载电压信号的电压值等于所述偏置电源电压,且所述第一控制信号、所述第二控制信号以及所述负载状态信号均为低电平。
7.一种自动负载检测方法,所述自动负载检测方法基于权利要求1-6任意一项所述的自动负载检测电路,其特征在于,所述快速响应方法包括如下步骤:
步骤S1、充电初始化:
所述自动负载检测电路上电,所述负载电压信号的电压值小于所述偏置电源电压,所述比较器输出的检测信号为高电平,所述逻辑控制模块输出的所述第一控制信号、所述第二控制信号以及所述负载状态信号均为高电平,所述自动负载检测电路启动对负载进行充电;
步骤S2、负载充电:
所述比较器输出检测信号为低电平,所述负载状态信号清零,所述第二控制信号变低电平;
步骤S3、根据负载状态判断充电状态:
步骤S31、判断负载状态:
在所述步骤S2进行时,所述自动负载检测电路实时检测负载状态,若发生负载拔出,则进入步骤S311,否则,维持在所述步骤S2中;
步骤S311、负载拔出状态:
所述负载状态信号变低电平,触发所述复位信号变高电平,所述自动负载检测电路进入所述清零复位状态,所述负载电压设为低电平且所述检测信号为高电平,所述负载电压充电升压至所述偏置电源电压且所述检测信号转为低电平,所述第一控制信号转为低电平,则进入所述步骤S31;
步骤S32、判断充电是否完成:
在所述步骤S2进行时,所述自动负载检测电路实时检测负载状态,若发生负载充电完成,则进入步骤S321,否则,维持在所述步骤S2中;
步骤S321、充电完成状态:
所述负载状态信号变低电平,触发所述复位信号变高电平,所述自动负载检测电路进入所述清零复位状态,所述负载电压设为低电平且所述检测信号为高电平,所述负载电压充电升压至所述偏置电源电压,所述第一控制信号保持为高电平,所述第二控制信号保持为低电平。
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