[发明专利]一种数据处理方法、装置和电子设备在审
申请号: | 201910483039.6 | 申请日: | 2019-06-04 |
公开(公告)号: | CN112035849A | 公开(公告)日: | 2020-12-04 |
发明(设计)人: | 王国赛;李艺;王蜀洪 | 申请(专利权)人: | 华控清交信息科技(北京)有限公司 |
主分类号: | G06F21/60 | 分类号: | G06F21/60 |
代理公司: | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人: | 莎日娜 |
地址: | 100084 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 数据处理 方法 装置 电子设备 | ||
1.一种数据处理方法,其特征在于,包括:
获取待操作数组A和所述待操作数组A对应的操作条件,其中,待操作数组A为密文和/或所述操作条件包括的比较信息为密文;
构造辅助数组B,所述辅助数组B与所述待操作数组A的长度相同;
将所述辅助数组B中各位置对应的元素B[i]赋值为:待操作数组A中各位置对应的待操作信息与操作条件中比较信息按照操作条件进行密文比较的结果且值为0或1的密文;
将所述待操作数组A与赋值后的辅助数组B相乘,得到目标数组C;
其中,待操作数组A的长度为n,n为正整数,i为整数,i的取值范围为0~n-1。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,当所述操作条件为元素选取类操作条件时,所述操作条件包括的比较信息为待选取元素的位置信息,所述位置信息为密文s;
所述将所述辅助数组B中各位置对应的元素B[i]赋值为:待操作数组A中各位置对应的待操作信息与操作条件中比较信息按照操作条件进行密文比较的结果且值为0或1的密文,具体包括:
针对所述辅助数组B中每一个位置对应的元素B[i],将所述辅助数组B中所述元素B[i]赋值为:比较待操作数组A中所述位置对应的位置信息i与密文s是否相等的结果的密文;
其中,当待操作数组A中所述位置对应的位置信息i与密文s相等时,所述结果的密文对应为1的密文;当不相等时,所述结果的密文对应为0的密文。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述将所述待操作数组A与赋值后的辅助数组B相乘,包括:
将所述待操作数组A中各位置的元素A[i]与赋值后的辅助数组B中对应位置的元素B[i]相乘;
在所述得到目标数组C后,所述的方法还包括:
计算所述目标数组C各位置对应元素C[i]之和,得到所述待操作数组A中所述位置信息为密文s对应的待选取元素A[s]。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,当所述操作条件为数组拆分类操作条件或数组过滤类操作条件时,所述操作条件还包括关系运算符,
所述将所述辅助数组B中各位置对应的元素B[i]赋值为:待操作数组A中各位置对应的待操作信息与操作条件中比较信息按照操作条件进行密文比较的结果且值为0或1的密文,具体包括:
针对所述辅助数组B中每一个元素B[i],将所述辅助数组B中所述元素B[i]赋值为:待操作数组A中元素A[i]与操作条件中比较信息按照所述关系运算符进行密文比较的结果的密文;
其中,当待操作数组A中元素A[i]与比较信息满足所述关系运算符对应的比较关系时,所述结果对应的密文为1的密文;当不满足时,所述结果的密文对应为0的密文。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,当所述操作条件为数组拆分类操作条件时,所述操作条件包括M个子条件Sm,所述辅助数组包括M个子辅助数组Bm,所述子条件Sm与子辅助数组Bm对应;
所述针对所述辅助数组B中每一元素B[i],将所述辅助数组B中的所述元素B[i]赋值为:待操作数组A中元素A[i]与操作条件中比较信息按照所述关系运算符进行密文比较的结果的密文,具体包括:
针对每一个子辅助数组Bm中的每一个元素Bm[i],将所述子辅助数组Bm中所述元素Bm[i]赋值为:所述待操作数组A中元素A[i]与所述子辅助数组Bm对应子条件Sm中比较信息,按照所述Sm中关系运算符进行密文比较的结果的密文;
其中,当所述待操作数组A中元素A[i]与比较信息满足子条件Sm中关系运算符对应的比较关系时,所述结果的密文对应为1的密文,当不满足时,所述结果对应为0的密文;
其中,M、m为正整数,m的取值为1~M。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华控清交信息科技(北京)有限公司,未经华控清交信息科技(北京)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910483039.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种配置更新方法和装置
- 下一篇:一种分段式实验刻度装置及其使用方法