[发明专利]大型天线波束波导反射面的安装调整方法有效
| 申请号: | 201910473514.1 | 申请日: | 2019-05-31 |
| 公开(公告)号: | CN110233355B | 公开(公告)日: | 2021-06-08 |
| 发明(设计)人: | 李东伟;阎宏涛;靖猛;郭军;汪广瑞 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第三十九研究所 |
| 主分类号: | H01Q19/19 | 分类号: | H01Q19/19;G01B21/00 |
| 代理公司: | 西北工业大学专利中心 61204 | 代理人: | 陈星 |
| 地址: | 710000 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 大型 天线 波束波导 反射 安装 调整 方法 | ||
1.一种大型天线波束波导反射面的安装调整方法,其特征在于:包括以下步骤:
步骤1:利用空间点位检测装置在天线主反射面的基准位置处建立基准坐标系;
步骤2:对天线波束波导反射镜进行分组,将能够被安装在天线内部某一位置处的空间点位检测装置同时观察到的至少两个反射镜作为一组;
步骤3:从最接近天线主反射面基准位置的一组反射镜开始,沿天线波束波导通道方向,对每组反射镜采用以下步骤实现位置调整:
步骤3.1:在该组反射镜附近的天线刚体结构上建立至少3个转站点,所述该组反射镜为当前进行位置调整的一组反射镜;所述转站点能够被前一组反射镜位置调整时所设置的空间点位检测装置观察并检测到其在该空间点位检测装置坐标系下的坐标;若该组反射镜为第一组反射镜,则所述转站点能够被步骤1中处于天线主反射面基准位置处的空间点位检测装置观测并检测到其在基准坐标系下的坐标;
步骤3.2:移动空间点位检测装置至该组反射镜附近的位置,使得空间点位检测装置能够同时观察到该组反射镜和步骤3.1建立的转站点;
步骤3.3:利用空间点位检测装置对转站点进行位置检测,得到所述转站点在当前空间点位检测装置坐标系下的坐标,然后依据步骤3.1中得到的所述转站点在基准坐标系下的坐标,将当前空间点位检测装置坐标系恢复到基准坐标系;
步骤3.4:利用空间点位检测装置检测该组反射镜中每个反射镜镜面上各至少3个点在基准坐标系下的坐标;
步骤3.5:将步骤3.4检测到的坐标导入检测数据建模及分析系统,得到每个反射镜镜面的实测位置,并与每个反射镜镜面在天线理论模型中的理论位置进行对比,得到位置差值;
步骤3.6:根据步骤3.5得到的反射镜镜面实测位置与理论位置的差值,对反射镜组进行调整;
步骤3.7:重复步骤3.4~步骤3.6,直至该反射镜组中的每个反射镜镜面达到预期的理论位置要求。
2.根据权利要求1所述一种大型天线波束波导反射面的安装调整方法,其特征在于:当步骤3.2中,无法得到一个安装位置使空间点位检测装置能够同时观察到该组反射镜和步骤3.1建立的转站点时,
将步骤3.2改为:沿天线波束波导通道方向,进一步在更靠近该组反射镜的天线刚体结构上建立至少3个二次转站点;
而后移动空间点位检测装置至二次转站点附近的位置,使得空间点位检测装置能够同时观察到步骤3.1建立的转站点和二次转站点;
此时利用空间点位检测装置对步骤3.1建立的转站点进行位置检测,得到步骤3.1建立的转站点在当前空间点位检测装置坐标系下的坐标,然后依据步骤3.1中得到的该转站点在基准坐标系下的坐标,将当前空间点位检测装置坐标系恢复到基准坐标系;
再利用当前空间点位检测装置对二次转站点进行位置检测,得到二次转站点在基准坐标系下的坐标;
之后再移动空间点位检测装置至该组反射镜附近的位置,使得空间点位检测装置能够同时观察到该组反射镜和二次转站点;
将步骤3.3改为:利用空间点位检测装置对二次转站点进行位置检测,得到二次转站点在当前空间点位检测装置坐标系下的坐标,然后依据二次转站点在基准坐标系下的坐标,将当前空间点位检测装置坐标系恢复到基准坐标系;
之后步骤3.4~步骤3.7不变。
3.根据权利要求1或2所述一种大型天线波束波导反射面的安装调整方法,其特征在于:天线主反射面的基准位置为天线面法兰中心。
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