[发明专利]一种真三轴试验的多测点试样的密封结构

权利要求书

1.一种真三轴试验的多测点试样的密封结构，包括用于包裹试样（1）的密封胶套（2），其特征在于：所述密封胶套（2）上端开口，通过锥形密封堵头（3）密封，所述锥形密封堵头（3）的锥形密封面上设有多个密封凸起，密封胶套（2）与开口相对的一端外侧设有密封座（12）；

密封胶套（2）在密封座（12）所在的一端装有注入井密封组件（5）和压力探头密封组件（6），在所述密封胶套（2）的前后左右侧面上装有电极触点密封组件（4）；

所述注入井密封组件（5）包括第一密封接头（52），第一密封接头（52）轴向中部设有与注入井管（51）间隙配合的通孔，第一密封接头（52）一端可拆卸地装配于密封胶套（2）上，另一端设有第一沉台（53），所述第一沉台（53）内设有第一密封环（54），第一沉台（53）的内侧壁上设有与第一压紧螺母（55）配合的螺纹，第一压紧螺母（55）沿第一沉台（53）内侧壁旋入挤压第一密封环（54），第一密封环（54）受挤压力变形与注入井管（51）紧贴，实现密封；

所述压力探头密封组件（6）包括第二密封接头（62），第二密封接头（62）轴向中部设有与压力探头（61）间隙配合的通孔，第二密封接头（62）一端可拆卸地装配于密封胶套（2）上，另一端设有第二沉台（63），所述第二沉台（63）内设有第二密封环（64），第二沉台（63）的内侧壁上设有与第二压紧螺母（65）配合的螺纹，第二压紧螺母（65）沿第二沉台（63）内侧壁旋入挤压第二密封环（64），第二密封环（64）受挤压力变形与压力探头（61）紧贴，实现密封；

所述电极触点密封组件（4）包括第三密封接头（41），第三密封接头（41）轴向中部设有与触点插针（44）对应配合的螺纹孔（43）。

2.根据权利要求1所述的真三轴试验的多测点试样的密封结构，其特征在于：所述密封胶套（2）在密封座（12）所在的一端设有第一圆柱凸台（21）和第二圆柱凸台（22），前后左右的侧面上设有第三圆柱凸台（23），所述第一圆柱凸台（21）上设有与第一密封接头（52）外周过渡配合的第一安装孔（24），所述的第二圆柱凸台（22）上设有与第二密封接头（62）外周过渡配合的第二安装孔（25），所述第三圆柱凸台（23）上设有与第三密封接头（41）外周过渡配合的第三安装孔（26）。

3.根据权利要求1或2所述的真三轴试验的多测点试样的密封结构，其特征在于：所述第一密封接头（52）外周设有密封环槽，密封环槽内设有密封圈（56）。

4.根据权利要求1或2所述的真三轴试验的多测点试样的密封结构，其特征在于：所述第二密封接头（62）和第三密封接头（41）外周设有多个弧形凸起。

5.根据权利要求1或2所述的真三轴试验的多测点试样的密封结构，其特征在于：所述第一密封接头（52）、第二密封接头（62）和第三密封接头（41）的材质为聚醚醚酮。

6.根据权利要求1或2所述的真三轴试验的多测点试样的密封结构，其特征在于：所述密封胶套（2）前后左右四个方向错位布置有加载板（7），所述加载板（7）之间形成用于放置密封胶套（2）的加载腔。

7.根据权利要求1或2所述的真三轴试验的多测点试样的密封结构，其特征在于：所述锥形密封堵头（3）的斜度为2°。