[发明专利]一种应用于TDI CMOS图像传感器的防抖动方法

权利要求书

1.一种应用于TDI CMOS图像传感器的防抖动方法，其特征在于，包括步骤：

单级储存器读取单级储存器的单级光信号储存在补偿电容中，同时在TDI累加器中进行传统TDI积累；

TDI累加器计算单级光信号差异并将光信号差异添加到累加电容中，得到光信号总差异，并利用该光信号总差异得到总信号输出；

其中，n级TDI光信号总差异为：

总信号

其中，YA是单级光信号，i＝n。

2.如权利要求1所述应用于TDI CMOS图像传感器的防抖动方法，其特征在于，所述单级储存器设置在TDI累加器与多个像素之间，包括有：

补偿电容模块,包含多个并联布置的补偿电容，用于CDS读出的单级光信号，每个补偿电容连接一个补偿电容开关；

电容式跨阻放大器，设在所述补偿电容模块与多个像素之间之间，其输出与补偿电容模块的输入连接，用于电荷积分，包括增益放大器以及一个电容、一个补偿开关；补偿开关闭合时工作，通过及补偿电容开关在相应TDI阶段闭合，将积分结果给补偿电容，使相应的补偿电容得到电荷的积累。

3.如权利要求2所述应用于TDI CMOS图像传感器的防抖动方法，其特征在于，所述一个电容、一个补偿开关分别与增益放大器并联布置。

4.如权利要求1所述应用于TDI CMOS图像传感器的防抖动方法，其特征在于，所述补偿电容模块的输出通过第一开关与TDI累加器的增益放大器的光信号输入端连接，TDI累加器的增益放大器的信号输入端与像素的光信号输出端通过第二开关相连接。

5.如权利要求4所述应用于TDI CMOS图像传感器的防抖动方法，其特征在于，所述TDI累加器包括多个并联布置的累积电容，采样保持电容，每个所述累积电容与一个累积开关串联连接，所述采样保持电容通过采样保持开关与TDI累加器的增益放大器的信号输出端连接，多个累积电容、累积开关分别与TDI累加器的增益放大器并联。