[发明专利]基于近红外光谱技术的模式识别方法在审
申请号: | 201910432600.8 | 申请日: | 2019-05-22 |
公开(公告)号: | CN110084227A | 公开(公告)日: | 2019-08-02 |
发明(设计)人: | 钱丽丽;宋雪健;张东杰;李殿威;赵文瑜;曾华英 | 申请(专利权)人: | 黑龙江八一农垦大学 |
主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00;G06K9/62;G01N21/359 |
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地址: | 163319 黑龙江省大*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 模式识别 近红外光谱技术 定量分析模型 聚类分析 近红外漫反射光谱 预处理 定性分析模型 建模数据采集 平滑预处理 二阶导数 分析模型 检测样品 建模数据 聚类算法 一阶导数 傅里叶 因子化 平滑 建模 采集 分类 | ||
1.一种基于近红外光谱技术的模式识别方法,其特征在于,包括:具体识别方法过程如下:
步骤1:采用傅里叶近红外漫反射光谱技术进行采样,获取样品原始光谱;
步骤2:对所述原始光谱进行预处理,得到建模光谱;
步骤3:对所述建模光谱进行特征提取,建立识别模型;
步骤4:将待识别光谱数据输入识别模型,获得判别结果。
2.根据权利要求1所述的基于近红外光谱技术的模式识别方法,其特征在于,所述步骤1中,利用TENSOR II型傅里叶变换近红外光谱仪进行所述样品的所述原始光谱的采集;利用OPUS 7.5软件对所述样品进行扫描,进行检查信号、保存峰位、扫描背景单通道光谱、测量样品单通道光谱操作;还设置有压样器,通过所述压样器将所述样品表面处理平整和压实,再利用所述近红外光谱进行所述原始光谱的采集。
3.根据权利要求1所述的基于近红外光谱技术的模式识别方法,其特征在于,所述步骤2中的预处理方式为矢量归一化、一阶导数+平滑法、一阶导数+SNV+平滑、二阶导数+平滑法或二阶导数+SNV+平滑法。
4.根据权利要求1所述的基于近红外光谱技术的模式识别方法,其特征在于,所述步骤2中采用二阶导数+SNV+5点平滑法进行所述原始光谱的预处理,所述步骤3中采用Ward’salgorithm聚类算法建立聚类分析模型。
5.根据权利要求1所述的基于近红外光谱技术的模式识别方法,其特征在于,所述步骤2中采用一阶导数+5点平滑法进行所述原始光谱的预处理,所述步骤3中采用因子化法建立定性分析模型。
6.根据权利要求1所述的基于近红外光谱技术的模式识别方法,其特征在于,所述步骤3中采用偏最小二乘法,建立的定量分析模型。
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