[发明专利]一种高能粒子探测单元脉冲频率的快速平滑方法

权利要求书

1.一种高能粒子探测单元脉冲频率的快速平滑方法，其特征在于：所述方法包括如下步骤：

步骤S1、设置单位周期时间T，在每个单位周期时间T均获取一次脉冲数n0；

步骤S2、根据获取的脉冲数n0往样本容量中增加新有效样本，且设置新有效样本间隔的单位周期时间数psT以及设置新有效样本间隔的单位周期时间数内的脉冲数pcV；

步骤S3、从样本容量中取出最新的M个有效样本数据，对M个有效样本数据的pcV和psT分别求和，并将求出的pcV总和除以psT总和得出短时的脉冲频率，记为nCPS；

步骤S4、将nCPS与上次求得的平均脉冲频率CPS进行比较，且如果nCPS在设置的频率范围值内，则进入步骤S5；如果nCPS不在设置的频率范围值内，则将样本容量中的有效样本数据减少到仅剩最新的M个有效样本数据，之后进入步骤S5；

步骤S5、从样本容量中取出所有的有效样本数据，对所有的有效样本数据的pcV和psT分别求和，并将所有pcV总和除以所有psT总和得到平均脉冲频率CPS，将所有psT总和除以所有pcV总和得到相邻脉冲间隔的时间量SPC，同时利用平均脉冲频率CPS转换出辐射剂量率。

2.根据权利要求1所述的一种高能粒子探测单元脉冲频率的快速平滑方法，其特征在于：所述步骤S2具体包括：

步骤S21、如果获取的脉冲数n0大于零，则将有效样本数realN加上1，并增加一个新有效样本，且设置该新有效样本间隔的单位周期时间数psT为1，设置该新有效样本间隔的单位周期时间数内的脉冲数pcV为n0，之后进入步骤S3；如果获取的脉冲数n0等于零，则进入步骤S22；

步骤S22、判断上一个有效样本的psT是否小于相邻脉冲间隔的时间量SPC，如果是，则将上一个有效样本的psT加上1，之后进入步骤S3；如果否，则将realN加上1，并增加一个新有效样本，且设置该新有效样本的psT为1，设置该新有效样本的pcV为0，之后进入步骤S3。

3.根据权利要求2所述的一种高能粒子探测单元脉冲频率的快速平滑方法，其特征在于：所述增加一个新有效样本具体为：

在增加一个新有效样本时，先判断当前的有效样本的个数是否达到设定的样本容量的个数，且如果否，则将新的有效样本直接加入到样本容量中；如果是，则将样本容量中最早加入的有效样本删除，并将新的有效样本加入到样本容量中。

4.根据权利要求3所述的一种高能粒子探测单元脉冲频率的快速平滑方法，其特征在于：所述设定的样本容量的个数为60个。

5.根据权利要求1所述的一种高能粒子探测单元脉冲频率的快速平滑方法，其特征在于：在所述步骤S1中，所述单位周期时间T为0.5秒。

6.根据权利要求1所述的一种高能粒子探测单元脉冲频率的快速平滑方法，其特征在于：所述设置的频率范围值为0.2CPS～5CPS。

7.根据权利要求1所述的一种高能粒子探测单元脉冲频率的快速平滑方法，其特征在于：所述M的取值为4。