[发明专利]一种基于谐振法的液晶介电常数测量装置在审
| 申请号： | 201910426945.2 | 申请日： | 2019-05-22 |
| 公开（公告）号： | CN110082605A | 公开（公告）日： | 2019-08-02 |
| 发明（设计）人： | 赵青;赵怿哲;陈宗;汪相如 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 成都正华专利代理事务所(普通合伙) 51229 | 代理人： | 李蕊 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 上介质基板 贴片 介质板 谐振 测量装置 金属底板 金属圆形 液晶介电常数 金属通孔 金属圆孔 液晶腔体 中心设置 谐振法 可拆卸连接 上表面边缘 耦合微带线 从上到下 贴片连接 依次设置 灵敏度 侧边缘 上表面 下表面 测量 相通 | ||
1.一种基于谐振法的液晶介电常数测量装置，其特征在于，包括上介质基板(6)、介质板(7)和金属底板(8)；
所述上介质基板(6)、介质板(7)和金属底板(8)从上到下依次设置，所述上介质基板(6)与介质板(7)固定连接，所述介质板(7)与金属底板(8)可拆卸连接；
所述上介质基板(6)的上表面的两个对侧边缘均设置有一对SMA接头(9)，所述两个SMA接头(9)之间均设置有耦合微带线(1)，所述上介质基板(6)的下表面中心设置有谐振贴片(3)；
所述上介质基板(6)的上表面边缘还设置有金属圆形贴片(2)，所述金属圆形贴片(2)对应的上介质基板(6)上设置有金属通孔，所述金属圆形贴片(2)通过金属通孔中的导线(10)与谐振贴片(3)连接；
所述介质板(7)的中心设置有用于填充液晶的液晶腔体(4)，所述液晶腔体(4)的面积小于谐振贴片(3)的面积，所述谐振贴片(3)覆盖于液晶腔体(4)的上表面；
所述金属底板(8)上设置两个金属圆孔(5)，两个所述金属圆孔(5)与液晶腔体(4)相通。
2.根据权利要求1所述的基于谐振法的液晶介电常数测量装置，其特征在于，所述上介质基板(6)和介质板(7)均为厚度为0.254mm的罗杰斯4350B。
3.根据权利要求1所述的基于谐振法的液晶介电常数测量装置，其特征在于，所述谐振贴片(3)的尺寸为9mm×9mm。
4.根据权利要求1所述的基于谐振法的液晶介电常数测量装置，其特征在于，两个所述耦合微带线(1)的宽度均为1.1mm。
5.根据权利要求1所述的基于谐振法的液晶介电常数测量装置，其特征在于，所述金属底板(8)的上表面和谐振贴片(3)的上表面均设置有取向膜。
6.根据权利要求1所述的基于谐振法的液晶介电常数测量装置，其特征在于，两个所述金属圆孔(5)用于为向液晶腔体(4)填充液晶提供注射空间，并通过环氧树脂在液晶注射完成后将金属圆孔(5)封装。
7.根据权利要求1所述的基于谐振法的液晶介电常数测量装置，其特征在于，两对所述SMA接头(9)通过同轴电缆与矢量网络分析仪连接。
8.根据权利要求1所述的基于谐振法的液晶介电常数测量装置，其特征在于，所述金属圆形贴片(2)与外接电源正极连接，所述金属底板(8)与外接电源负极连接。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学，未经电子科技大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910426945.2/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
