[发明专利]一种背光源压模缺陷检测方法及系统在审
| 申请号: | 201910425764.8 | 申请日: | 2019-05-21 |
| 公开(公告)号: | CN110220916A | 公开(公告)日: | 2019-09-10 |
| 发明(设计)人: | 洪志坤;张胜森;郑增强;欧昌东 | 申请(专利权)人: | 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司 |
| 主分类号: | G01N21/95 | 分类号: | G01N21/95 |
| 代理公司: | 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 | 代理人: | 赵伟 |
| 地址: | 430205 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 背光源 施压装置 压模 缺陷检测 取像 施压 压覆 帧率 相机 检测技术领域 背光 背光区域 光学缺陷 连续拍摄 缺陷信息 系统结构 行进过程 膜层 适配 贴附 拍照 检测 图片 表现 | ||
1.一种背光源压模缺陷检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1:设置施压装置的施压方式以及相机的取像帧率,使所述取像帧率与施压装置的施压频率适配;
S2:控制所述施压装置按照所述施压方式和施压频率压覆待测背光源,同时通过所述相机连续拍摄施压装置行进过程中的多张背光源图片;
S3:对所述多张背光源图片进行缺陷检测,得到待测背光源上的压模缺陷信息。
2.如权利要求1所述的背光源压模缺陷检测方法,其特征在于,步骤S1包括以下子步骤:
S110:根据预设的施压装置的行进速度V和待测背光源的长度L计算施压装置经过整个待测背光源的时间t,t=L/V;
S120:根据预设的单个待测背光源的取像张数N和所述时间t设置相机的取像帧率N/t。
3.如权利要求1所述的背光源压模缺陷检测方法,其特征在于,步骤S1包括以下子步骤:
S111:根据预设的施压装置的行进角速度ω和待测背光源的圆心角θ计算施压装置经过整个待测背光源的时间t,t=θ/ω;
S121:根据预设的单个待测背光源的取像张数N和所述时间t设置相机的取像帧率N/t。
4.如权利要求1所述的背光源压模缺陷检测方法,其特征在于,步骤S1包括以下子步骤:
S112:根据待测背光源的面积S1、施压装置与待测背光源接触面的截面积S2计算施压次数n,n=S1/S2;
S122:设置施压装置的施压顺序和施压频率f,并根据所述施压频率f和施压次数n计算施压装置经过整个待测背光源的时间t,t=n/f;
S132:根据预设的单个待测背光源的取像张数N和所述时间t设置相机的取像帧率N/t。
5.如权利要求1所述的背光源压模缺陷检测方法,其特征在于,步骤S1之前还包括以下步骤:
根据选用的相机参数和待测背光源的长度L计算相机的工作距离WD;WD=f(1+L/l),其中,f为相机镜头的焦距,l为相机芯片的长度。
6.如权利要求1~5任一项所述的背光源压模缺陷检测方法,其特征在于,步骤S3中还包括以下步骤:
根据施压装置的行进方向或施压顺序分别将每一张面板图片裁剪为N个子图片,依次提取出第i张面板图片中的第i个子图片并将N张所述子图片按序合成为一张拼接图片,对所述拼接图片进行缺陷检测;其中,i=1~N。
7.一种背光源压模缺陷检测系统,其特征在于,包括相机和施压装置;
所述施压装置用于按照预设的施压方式和施压频率压覆待测背光源;
所述相机用于拍摄施压装置压覆待测背光源过程中的多张背光源图片;
还包括处理器、存储器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器中运行的计算机程序,所述计算机程序被执行时控制所述施压装置和相机实现权利要求1~6任一项所述方法的步骤。
8.如权利要求7所述的背光源压模缺陷检测系统,其特征在于,所述处理器包括计算单元和图像处理单元;
所述计算单元用于根据施压装置的施压方式计算相机的取像帧率,使所述取像帧率与施压装置的施压频率适配;
所述图像处理单元用于获取相机采集的施压装置压覆待测背光源过程中的多张背光源图片并对所述面板图片进行缺陷检测,得到面板上的压模缺陷信息。
9.如权利要求8所述的背光源压模缺陷检测系统,其特征在于,所述处理器还包括拼接单元;
所述拼接单元用于根据施压装置的行进方向或施压顺序分别将每一张面板图片裁剪为N个子图片,依次提取出第i张面板图片中的第i个子图片并将N张所述子图片按序合成为一张拼接图片;所述拼接图片被提供给所述图像处理单元进行缺陷检测;其中,i=1~N。
10.如权利要求7所述的背光源压模缺陷检测系统,其特征在于,所述施压装置采用滚筒或按压模具。
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